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检测设备（晶硅电池线扫隐裂与面阵碎片款）
被引：0
专利类型：
外观设计
申请号：
CN202030413286.2
申请日：
2020-07-27
公开(公告)号：
CN306202569S
公开(公告)日：
2020-12-01
发明(设计)人：
宋金磊
申请人：
申请人地址：
311305 浙江省杭州市临安区青山湖街道大园路723号越秀星汇中心20层2001室
IPC主分类号：
1005
IPC分类号：
代理机构：
上海世圆知识产权代理有限公司 31320
代理人：
顾俊超
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-12-01 | 授权 | 授权 |