芯片的调试系统、调试方法和调试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201410453793.2
申请日
2014-09-05
公开(公告)号
CN104239175A
公开(公告)日
2014-12-24
发明(设计)人
肖勇 王少亮 赵明洋
申请人
申请人地址
100086 北京市海淀区中关村南大街2号数码大厦A座28层
IPC主分类号
G06F1126
IPC分类号
代理机构
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
吴贵明;张永明
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
调试装置、调试方法和调试系统 [P]. 
万中魁 ;
巩方源 ;
王志懋 ;
李亮 .
中国专利 :CN114265802A ,2022-04-01
[2]
调试装置、调试方法和调试系统 [P]. 
万中魁 ;
巩方源 ;
王志懋 ;
李亮 .
中国专利 :CN114265802B ,2025-01-21
[3]
调试系统及其调试装置和方法 [P]. 
程上杰 ;
杨明伦 .
中国专利 :CN104572423A ,2015-04-29
[4]
调试装置和调试系统 [P]. 
吴立志 ;
冯伟 ;
郝新利 ;
陈桂林 ;
孙泰祥 ;
李向华 ;
盛辉 ;
周学慧 ;
张凯 .
中国专利 :CN115616791A ,2023-01-17
[5]
调试装置和调试系统 [P]. 
季昕驰 ;
双强 ;
周永超 .
中国专利 :CN212061190U ,2020-12-01
[6]
调试装置和远程调试系统 [P]. 
吴肇滨 ;
袁亚文 ;
范小健 .
中国专利 :CN110750402A ,2020-02-04
[7]
调试装置和远程调试系统 [P]. 
吴肇滨 ;
袁亚文 ;
范小健 .
中国专利 :CN210983375U ,2020-07-10
[8]
显示面板的调试系统、调试装置及调试方法 [P]. 
苏国火 ;
刘长城 ;
孙志华 ;
刘建涛 ;
李森旺 ;
林准 ;
刘文亮 ;
张银龙 ;
唐继托 ;
张金玲 .
中国专利 :CN112908239B ,2021-06-04
[9]
多芯片调试方法及多芯片调试装置 [P]. 
吴候 ;
吴滔 .
中国专利 :CN112231161B ,2024-03-19
[10]
多芯片调试方法及多芯片调试装置 [P]. 
吴候 ;
吴滔 .
中国专利 :CN112231161A ,2021-01-15