半导体存储装置的测试方法及其半导体存储装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710142026.X

申请日：

2007-08-20

公开(公告)号：

CN101136253A

公开(公告)日：

2008-03-05

发明(设计)人：

富田浩由

申请人：

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

G11C2944

IPC分类号：

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司

代理人：

赵淑萍

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-03-05	公开	公开
2015-06-03	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101715909847 IPC(主分类):G11C 29/44 专利号:ZL200710142026X 变更事项:专利权人变更前权利人:富士通半导体股份有限公司变更后权利人:株式会社索思未来变更事项:地址变更前权利人:日本神奈川县变更后权利人:日本神奈川县登记生效日:20150514
2019-08-09	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11C 29/44 申请日:20070820 授权公告日:20101208 终止日期:20180820
2008-04-30	实质审查的生效	实质审查的生效
2010-12-08	授权	授权
2008-11-26	专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)	专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移) 变更事项:申请人变更前权利人:富士通株式会社变更后权利人:富士通微电子株式会社变更事项:地址变更前权利人:日本神奈川县变更后权利人:日本东京都登记生效日:20081024

共 50 条

[1]

半导体存储装置 [P].

增田隆史 ;

芹泽健一 ;

高桥弘行 .

中国专利 :CN101436429A ,2009-05-20

[2]

半导体存储装置 [P].

饭田真久 .

中国专利 :CN101169968A ,2008-04-30

[3]

半导体存储装置 [P].

塚田修一 .

中国专利 :CN1956099A ,2007-05-02

[4]

半导体存储装置 [P].

和田政春 .

中国专利 :CN115132248A ,2022-09-30

[5]

半导体存储装置和操作半导体存储装置的方法 [P].

金尚玧 ;

徐宁焄 ;

权慧贞 ;

李明奎 ;

赵诚慧 .

韩国专利 :CN112289367B ,2025-07-18

[6]

半导体存储装置和操作半导体存储装置的方法 [P].

金尚玧 ;

徐宁焄 ;

权慧贞 ;

李明奎 ;

赵诚慧 .

中国专利 :CN112289367A ,2021-01-29

[7]

半导体存储装置 [P].

阿部克巳 ;

吉原正浩 .

中国专利 :CN104064215A ,2014-09-24

[8]

半导体存储装置 [P].

驹井宏充 .

中国专利 :CN109411003B ,2019-03-01

[9]

半导体存储装置 [P].

荒川健 .

中国专利 :CN100474447C ,2006-01-25

[10]

半导体存储装置 [P].

前岛洋 .

日本专利 :CN117746949A ,2024-03-22

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