用于微粒的光学检测方法和光学检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810171945.4

申请日：

2008-10-24

公开(公告)号：

CN101419171B

公开(公告)日：

2009-04-29

发明(设计)人：

篠田昌孝今西慎悟

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

G01N2165 G01N3348

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

余刚;吴孟秋

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-01-11	授权	授权
2019-10-18	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20081024 授权公告日:20120111 终止日期:20181024
2009-04-29	公开	公开
2009-06-24	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

光学检测方法和光学检测装置 [P].

大卫·K·梅福德 ;

罗伯特·A·史密斯 ;

约翰·R·洛厄尔 .

美国专利 :CN111323386B ,2024-04-19

[2]

光学检测方法和光学检测装置 [P].

大卫·K·梅福德 ;

罗伯特·A·史密斯 ;

约翰·R·洛厄尔 .

中国专利 :CN111323386A ,2020-06-23

[3]

光学检测装置、光学检测方法、用于光学检测的装置 [P].

郭德银 ;

龚海 ;

高涵 ;

刘进 ;

陈飞跃 ;

李青岩 ;

陈俊秀 .

中国专利 :CN117969526A ,2024-05-03

[4]

光学检测方法和光学检测装置 [P].

H·范德布洛克 .

中国专利 :CN113702949A ,2021-11-26

[5]

光学检测方法及光学检测装置 [P].

安浦雅人 ;

藤卷真 ;

芦叶裕树 ;

岛隆之 .

中国专利 :CN109154561B ,2019-01-04

[6]

光学检测装置、光学检测方法与光学检测系统 [P].

王亮舒 ;

杜明达 .

中国专利 :CN106546535A ,2017-03-29

[7]

光学检测方法、光学检测装置及光学检测系统 [P].

安比卡帕亚鲁木鲁甘 ;

徐敏堂 ;

陆家樑 ;

方志恒 .

中国专利 :CN110658198A ,2020-01-07

[8]

光学检测模组、光学检测装置、以及光学检测方法 [P].

黎育腾 ;

曲昌盛 ;

贺培诚 ;

何贯睿 ;

钟双兆 ;

范植训 ;

陈治诚 .

中国专利 :CN106053349A ,2016-10-26

[9]

光学检测方法、光学检测装置以及光学检测系统 [P].

朱嘉 ;

何涛 ;

吴欢欢 .

中国专利 :CN106198567A ,2016-12-07

[10]

用于光学检测关节状况的光学检测方法和装置 [P].

W·H·J·伦森 .

中国专利 :CN102238901A ,2011-11-09

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