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一种高精度音频解码芯片测试系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201820636492.7
申请日
:
2018-04-28
公开(公告)号
:
CN208140879U
公开(公告)日
:
2018-11-23
发明(设计)人
:
刘伟
申请人
:
申请人地址
:
201800 上海市嘉定区永盛路2229号3幢1层、2层
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R104
G10L1900
B07C534
代理机构
:
东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215
代理人
:
刘克宽
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-11-23
授权
授权
共 50 条
[1]
一种高精度音频测试系统
[P].
解天宝
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解天宝
;
郭益辉
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郭益辉
;
黄振波
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黄振波
.
中国专利
:CN213818186U
,2021-07-27
[2]
一种高精度芯片测试时间成本分析系统
[P].
张经祥
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张经祥
;
魏津
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魏津
;
杜宇
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杜宇
.
中国专利
:CN213600832U
,2021-07-02
[3]
一种高精度芯片测试模组
[P].
丘劭晖
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机构:
浙江庆鑫科技有限公司
浙江庆鑫科技有限公司
丘劭晖
;
蔡庆鑫
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机构:
浙江庆鑫科技有限公司
浙江庆鑫科技有限公司
蔡庆鑫
;
杨洁
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机构:
浙江庆鑫科技有限公司
浙江庆鑫科技有限公司
杨洁
.
中国专利
:CN222979731U
,2025-06-13
[4]
一种热敏芯片高精度恒温空气测试机
[P].
管文喜
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管文喜
;
孙多利
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孙多利
;
涂玉
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涂玉
.
中国专利
:CN204536423U
,2015-08-05
[5]
一种高精度芯片定位测试设备
[P].
唐玲玲
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唐玲玲
;
唐华艳
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唐华艳
.
中国专利
:CN218497078U
,2023-02-17
[6]
一种高精度芯片定位测试设备
[P].
李辉
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南通弘伍计算机有限公司
南通弘伍计算机有限公司
李辉
;
南媛
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机构:
南通弘伍计算机有限公司
南通弘伍计算机有限公司
南媛
.
中国专利
:CN222439539U
,2025-02-07
[7]
一种微型芯片高精度测试结构
[P].
张本伍
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张本伍
;
郗旭斌
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郗旭斌
.
中国专利
:CN212540447U
,2021-02-12
[8]
一种高精度电池性能测试系统
[P].
王震
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王震
.
中国专利
:CN206497190U
,2017-09-15
[9]
一种高精度转速无线测试系统
[P].
刘文俊
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刘文俊
;
杨军
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杨军
;
吕文硕
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吕文硕
.
中国专利
:CN213240194U
,2021-05-18
[10]
高精度芯片测试装置
[P].
徐鹏嵩
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徐鹏嵩
;
罗跃浩
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罗跃浩
;
赵山
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赵山
;
郭孝明
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郭孝明
;
王化发
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王化发
;
黄建军
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黄建军
.
中国专利
:CN209894922U
,2020-01-03
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