基于F-P干涉仪的双波长共路相位显微成像测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911089761.8

申请日：

2019-11-08

公开(公告)号：

CN111122508A

公开(公告)日：

2020-05-08

发明(设计)人：

苑立波李晟孟令知

申请人：

申请人地址：

541004 广西壮族自治区桂林市金鸡路1号

IPC主分类号：

G01N2145

IPC分类号：

G03H100 G03H104 G03H122

代理机构：

代理人：

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/45 申请日:20191108
2020-05-08	公开	公开

共 50 条

[1]

基于F-P干涉仪反射透射式相位显微成像测量系统 [P].

苑立波 ;

李晟 ;

孟令知 .

中国专利 :CN111122509A ,2020-05-08

[2]

基于F-P干涉仪透射式正交偏振相位显微成像装置 [P].

苑立波 ;

李晟 ;

孟令知 .

中国专利 :CN111122510A ,2020-05-08

[3]

扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围测量系统 [P].

胡以华 ;

刘豪 ;

舒嵘 ;

洪光烈 ;

葛烨 ;

黄宇翔 .

中国专利 :CN203965129U ,2014-11-26

[4]

一种扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围测量系统 [P].

胡以华 ;

刘豪 ;

舒嵘 ;

洪光烈 ;

葛烨 ;

黄宇翔 .

中国专利 :CN104101483A ,2014-10-15

[5]

基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及其位移传感器解调系统 [P].

黎敏 ;

舒卓 ;

徐春晖 .

中国专利 :CN103335600B ,2013-10-02

[6]

双F-P腔与Michelson组合干涉仪 [P].

苑立波 ;

关春颖 ;

杨军 .

中国专利 :CN101846491A ,2010-09-29

[7]

双光源正弦相位调制位移测量干涉仪 [P].

王渤帆 ;

李中梁 ;

王向朝 .

中国专利 :CN101738160A ,2010-06-16

[8]

基于F-P腔的多波长相位显微成像新方法 [P].

苑立波 ;

孟令知 ;

李晟 .

中国专利 :CN110987871A ,2020-04-10

[9]

基于压电陶瓷的透射式相位显微成像测量系统 [P].

苑立波 ;

李晟 ;

孟令知 .

中国专利 :CN111025876B ,2020-04-17

[10]

可调F-P干涉仪极间距的在线监控系统 [P].

师树恒 ;

王斌 ;

朱健强 .

中国专利 :CN201003945Y ,2008-01-09

← 1 2 3 4 5 →