用于集成电路硬件设计的故障注入测试的方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110869888.2

申请日：

2021-07-30

公开(公告)号：

CN114065677A

公开(公告)日：

2022-02-18

发明(设计)人：

R·克鲁兹 H·夸兹

申请人：

申请人地址：

英国赫特福德郡

IPC主分类号：

G06F3034

IPC分类号：

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

王万影;王小东

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 30/34 申请日:20210730
2022-02-18	公开	公开

共 50 条

[1]

硬件电路故障注入测试方法、装置、设备、介质和系统 [P].

杨莉 ;

李海波 ;

王宗罡 ;

隋建鹏 ;

雷奥 ;

王强 .

中国专利 :CN111459735A ,2020-07-28

[2]

故障注入测试方法和系统 [P].

闵鹏 ;

谷飞扬 ;

石俊 .

中国专利 :CN115616372A ,2023-01-17

[3]

一种基于硬件电路故障注入的电路故障仿真系统 [P].

蒋雯倩 ;

李刚 ;

龙东 ;

曾博 ;

卿柏元 ;

潘俊涛 ;

李泰霖 ;

杨有贤 .

中国专利 :CN105005015A ,2015-10-28

[4]

一种测试设备、故障注入电路及故障注入测试方法 [P].

王超 .

中国专利 :CN117370094B ,2024-02-13

[5]

一种测试设备、故障注入电路及故障注入测试方法 [P].

王超 .

中国专利 :CN117370094A ,2024-01-09

[6]

一种用于故障注入的信号接入装置、故障注入测试系统 [P].

桑进军 .

中国专利 :CN206557315U ,2017-10-13

[7]

故障注入测试设备和方法 [P].

郑允植 ;

郑光哲 ;

崔璟和 ;

吴承昱 ;

郑连洙 ;

裴贤燮 .

韩国专利 :CN109976932B ,2024-10-18

[8]

故障注入测试设备和方法 [P].

郑允植 ;

郑光哲 ;

崔璟和 ;

吴承昱 ;

郑连洙 ;

裴贤燮 .

中国专利 :CN109976932A ,2019-07-05

[9]

硬件故障注入测试方法、装置、系统、上位机及存储介质 [P].

李书剑 ;

查小东 ;

汪向阳 ;

癿建建 .

中国专利 :CN118484346A ,2024-08-13

[10]

用于实车故障注入测试的装置 [P].

辛迪宇 ;

刘兴亮 ;

周景岩 ;

邢智超 ;

方锐 ;

吴轩 ;

张相雨 .

中国专利 :CN121187262A ,2025-12-23

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