样品冷却系统以及样品处理设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202122013387.2

申请日：

2021-08-25

公开(公告)号：

CN215727223U

公开(公告)日：

2022-02-01

发明(设计)人：

孔志博祁晓兵赵欢林燕华李少伟程通黄承浩张军夏宁邵

申请人：

申请人地址：

361005 福建省厦门市思明区思明南路422号

IPC主分类号：

G01N142

IPC分类号：

代理机构：

中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038

代理人：

邹丹

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-01	授权	授权

共 50 条

[1]

样品架和样品处理设备 [P].

B·瓦希迪 ;

W·M·斯特劳斯 ;

叶莘 ;

M·特雷霍 ;

李东文 ;

王涛 ;

林顺迎 .

中国专利 :CN212293530U ,2021-01-05

[2]

样品架和样品处理设备 [P].

B·瓦希迪 ;

W·M·斯特劳斯 ;

叶莘 ;

M·特雷霍 ;

李东文 ;

王涛 ;

林顺迎 .

中国专利 :CN111440702A ,2020-07-24

[3]

土壤样品处理装置和土壤样品处理设备 [P].

王勇 .

中国专利 :CN207408196U ,2018-05-25

[4]

基板冷却方法、基板冷却系统以及基板处理设备 [P].

魏民 ;

张风港 .

中国专利 :CN101901739B ,2010-12-01

[5]

样品处理设备 [P].

董志云 .

中国专利 :CN115541344A ,2022-12-30

[6]

样品处理设备 [P].

李响 ;

赵礴 ;

付红伟 ;

李培余 .

中国专利 :CN222636173U ,2025-03-18

[7]

样品处理设备 [P].

董志云 .

中国专利 :CN115541344B ,2025-06-10

[8]

样品处理设备 [P].

李响 ;

赵礴 ;

付红伟 ;

李培余 .

中国专利 :CN222636172U ,2025-03-18

[9]

用于低温电子显微术的样品支架和样品冷却系统 [P].

D.克洛斯 ;

B.阿普克 ;

R.E.索恩 .

中国专利 :CN114667586A ,2022-06-24

[10]

用于低温电子显微术的样品支架和样品冷却系统 [P].

D.克洛斯 ;

B.阿普克 ;

R.E.索恩 .

美国专利 :CN114667586B ,2025-07-01

← 1 2 3 4 5 →