芯片成品测试机

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310411996.0

申请日：

2013-09-10

公开(公告)号：

CN103454576A

公开(公告)日：

2013-12-18

发明(设计)人：

朱玉萍朱国璋岑刚

申请人：

申请人地址：

314100 浙江省嘉兴市嘉善县大云镇嘉善大道2188号3号楼1D、1E室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R3101

代理机构：

上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218

代理人：

翟羽;黄燕石

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-08-26	授权	授权
2013-12-18	公开	公开
2014-01-15	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101562727618 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2013104119960 申请日:20130910

共 50 条

[1]

芯片成品测试机 [P].

朱玉萍 ;

朱国璋 ;

岑刚 .

中国专利 :CN203519778U ,2014-04-02

[2]

成品测试机 [P].

刘卫华 ;

闫光忻 ;

陈峰 .

中国专利 :CN201615746U ,2010-10-27

[3]

集成电路芯片测试机 [P].

侯海平 .

中国专利 :CN301409411S ,2010-12-15

[4]

电池成品测试机 [P].

尹峰 .

中国专利 :CN210720471U ,2020-06-09

[5]

膜成品测试机 [P].

胡业忠 .

中国专利 :CN300974177D ,2009-08-05

[6]

AFGF成品测试机 [P].

朱振中 .

中国专利 :CN209215508U ,2019-08-06

[7]

芯片测试机 [P].

李震 ;

陈化良 ;

尤春明 .

中国专利 :CN117572196A ,2024-02-20

[8]

芯片测试机 [P].

李震 ;

陈化良 ;

尤春明 .

中国专利 :CN117572196B ,2025-08-05

[9]

芯片测试机 [P].

白盛闵 .

中国专利 :CN217787141U ,2022-11-11

[10]

新型集成电路芯片测试机 [P].

刘华 ;

赵春莲 ;

姚琳 ;

张超 ;

华锡培 .

中国专利 :CN201434900Y ,2010-03-31

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