用于示波器校准仪探头的高精度阻抗测量系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811581424.6
申请日
2018-12-24
公开(公告)号
CN109581062B
公开(公告)日
2019-04-05
发明(设计)人
杨万渝 戴志坚 韩熙利 黄俊
申请人
申请人地址
611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
IPC主分类号
G01R2702
IPC分类号
代理机构
成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220
代理人
温利平;陈靓靓
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种高精度示波器校准仪 [P]. 
梁恒军 .
中国专利 :CN212808592U ,2021-03-26
[2]
一种高精度示波器校准仪 [P]. 
赖送明 .
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[3]
一种高精度示波器校准仪 [P]. 
何定凤 .
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[4]
示波器、示波器探头及信号测量系统 [P]. 
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[5]
一种示波器校准仪方波幅度测量系统及方法 [P]. 
施滨 ;
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[6]
一种高精度的示波器探头装置 [P]. 
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[7]
低压器件超高阻抗的高精度测量系统 [P]. 
王海来 ;
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[8]
低压器件超高阻抗的高精度测量系统 [P]. 
王海来 ;
孔祥儒 ;
康明勇 .
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[9]
低压器件超高阻抗的高精度测量系统 [P]. 
王海来 ;
孔祥儒 ;
康明勇 .
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[10]
示波器探头自动测量打印系统 [P]. 
徐富生 ;
赵亚峰 .
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