一种OLED器件光电特性测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420008791.8

申请日：

2014-01-07

公开(公告)号：

CN203688743U

公开(公告)日：

2014-07-02

发明(设计)人：

彭俊彪罗建国马雪雪黄长煜吴为敬王磊

申请人：

申请人地址：

510640 广东省广州市天河区五山路381号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01M1102

代理机构：

广州市华学知识产权代理有限公司 44245

代理人：

蔡茂略

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-04-26	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/26 登记生效日:20190409 变更事项:专利权人变更前权利人:华南理工大学变更后权利人:广州晶合测控技术有限责任公司变更事项:地址变更前权利人:510640 广东省广州市天河区五山路381号变更后权利人:510663 广东省广州市广州高新技术产业开发区科学城科珠路201号G614
2014-07-02	授权	授权

共 50 条

[1]

一种OLED器件光电特性测试系统 [P].

彭俊彪 ;

罗建国 ;

马雪雪 ;

黄长煜 ;

吴为敬 ;

王磊 .

中国专利 :CN103760483A ,2014-04-30

[2]

一种OLED光电特性测试系统及测试方法 [P].

张方辉 ;

张微 ;

黄晋 ;

张思璐 ;

程君 ;

李怀坤 ;

孙立蓉 ;

张麦丽 .

中国专利 :CN103257308B ,2013-08-21

[3]

一种有机电致发光器件光电特性测试系统 [P].

张方辉 ;

张微 ;

黄晋 ;

张思璐 ;

程君 ;

李怀坤 ;

孙立蓉 ;

张麦丽 .

中国专利 :CN203249754U ,2013-10-23

[4]

一种OLED器件光电及量子效率测试系统 [P].

李轶文 ;

刘嵩 .

中国专利 :CN111175627A ,2020-05-19

[5]

一种简易LED光电特性测试系统 [P].

张宏志 .

中国专利 :CN203310963U ,2013-11-27

[6]

一种OLED器件光学寿命测试系统 [P].

殷伯银 ;

员浩然 ;

蒋陆龙 ;

葛丹杰 .

中国专利 :CN222719662U ,2025-04-04

[7]

一种OLED器件光电及量子效率测试装置 [P].

李轶文 ;

刘嵩 .

中国专利 :CN209728108U ,2019-12-03

[8]

一种元器件阻温特性与气敏特性测试系统 [P].

胡明 ;

华桦 ;

王昭昊 ;

刘子鹤 .

中国专利 :CN101487812B ,2009-07-22

[9]

用于光电探测器特性测试的装置及特性测试系统 [P].

彭经纶 ;

程勇 ;

朱彬彬 ;

张倩 .

中国专利 :CN205157168U ,2016-04-13

[10]

一种LED光电热特性的测试系统及其应用 [P].

孔繁敏 ;

张宁 .

中国专利 :CN107015134B ,2017-08-04

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