一种基于蚀刻衍射光栅的成像光谱仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620080832.3

申请日：

2016-01-27

公开(公告)号：

CN205537958U

公开(公告)日：

2016-08-31

发明(设计)人：

何建军杨旻岳李明宇

申请人：

申请人地址：

310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号

IPC主分类号：

G01J328

IPC分类号：

代理机构：

杭州求是专利事务所有限公司 33200

代理人：

林超

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-08-31	授权	授权
2020-01-17	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 3/28 申请日:20160127 授权公告日:20160831 终止日期:20190127

共 50 条

[1]

基于蚀刻衍射光栅的成像光谱仪 [P].

何建军 ;

杨旻岳 ;

李明宇 .

中国专利 :CN105547478B ,2016-05-04

[2]

一种衍射光栅光谱仪 [P].

董建杰 ;

张卫平 .

中国专利 :CN101672695A ,2010-03-17

[3]

光栅成像光谱仪 [P].

陈思颖 ;

张寅超 ;

葛宪莹 ;

陈和 .

中国专利 :CN102620827B ,2012-08-01

[4]

基于柱面镜的Wadsworth光栅成像光谱仪 [P].

于磊 ;

王淑荣 ;

林冠宇 .

中国专利 :CN104330161A ,2015-02-04

[5]

双衍射级次Offner成像光谱仪 [P].

方伟 ;

张浩 ;

叶新 .

中国专利 :CN103592024A ,2014-02-19

[6]

一种光栅色散成像光谱仪 [P].

于磊 ;

林冠宇 ;

王淑荣 .

中国专利 :CN107064016B ,2017-08-18

[7]

旋转光栅层析成像光谱仪 [P].

马臻 ;

李英才 ;

樊学武 ;

段学霆 ;

车驰骋 .

中国专利 :CN2651731Y ,2004-10-27

[8]

一种光栅光谱仪 [P].

赵辉 ;

尹志生 .

中国专利 :CN217504982U ,2022-09-27

[9]

一种基于衍射效应的成像光谱仪及其超光谱成像方法 [P].

杨涛 ;

黄维 ;

蒋正帅 ;

何浩培 .

中国专利 :CN109556716A ,2019-04-02

[10]

成像光谱仪 [P].

周镇乔 ;

贾宏博 .

中国专利 :CN206161528U ,2017-05-10

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