用于感测测量气体室中的测量气体的颗粒的传感器元件

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201780065827.2

申请日：

2017-10-11

公开(公告)号：

CN109891211B

公开(公告)日：

2019-06-14

发明(设计)人：

A·舒尔策 E·巴尔斯 A·蒂芬巴赫 K·赫韦格

申请人：

申请人地址：

德国斯图加特

IPC主分类号：

G01N1506

IPC分类号：

G01N1500

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

侯鸣慧

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-06-14	公开	公开
2019-11-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/06 申请日:20171011
2023-02-17	授权	授权

共 50 条

[1]

用于感测测量气体室中的测量气体的颗粒的传感器元件 [P].

B·赖因施 ;

S·勒施 ;

J·施奈德 ;

S·罗德瓦尔德 ;

C·福瑙 .

中国专利 :CN110121642A ,2019-08-13

[2]

用于感测在测量气体室中的测量气体的颗粒的传感器元件 [P].

S·勒施 ;

J·施奈德 ;

S·罗德瓦尔德 ;

C·福瑙 .

中国专利 :CN109716101A ,2019-05-03

[3]

用于感测测量气体室中的测量气体的颗粒的方法和用于感测测量气体室中的测量气体的颗粒的传感器组件 [P].

M·克伦克 .

中国专利 :CN111527394A ,2020-08-11

[4]

用于感测测量气体室中的测量气体的颗粒的方法和传感器组件 [P].

M·克伦克 .

德国专利 :CN111527394B ,2024-02-27

[5]

用于检测在测量气体室中的测量气体的颗粒的传感器元件 [P].

J·埃贝尔 ;

E·巴尔斯 ;

C·M·席林 .

中国专利 :CN114222906A ,2022-03-22

[6]

用于感测在测量气体室中的测量气体的至少一个特性的传感器元件 [P].

A·克尼贝尔 ;

S·富克斯 ;

E·巴尔斯 ;

V·约赫曼 ;

P·J·西费特 ;

C·M·席林 ;

S·C·斯蒂拉 ;

A·内奇 .

中国专利 :CN110140044A ,2019-08-16

[7]

用于感测测量气体室中的测量气体的至少一个特性的传感器 [P].

M·阿林格尔 ;

B·劳陶伊 ;

C-E·D·格里斯 ;

C·耶格 ;

G·舍戴 ;

J·施蒂尔 ;

J·鲁特 ;

M·罗森兰德 ;

M·科季内克 ;

P·拉费尔施泰特尔 ;

S·弗兰克 ;

T·帕斯图斯卡 .

中国专利 :CN110873747A ,2020-03-10

[8]

用于感测测量气体的至少一个特性的传感器元件 [P].

C·赫尔梅斯 ;

F·霍伊克 .

中国专利 :CN107449813A ,2017-12-08

[9]

用于运行用于检测在测量气体空间中的测量气体的颗粒的传感器元件的方法 [P].

D·诺尔茨 .

中国专利 :CN109997026B ,2019-07-09

[10]

用于检测测量气体室中的测量气体中的H<sub>2</sub>份额的传感器 [P].

M·凯勒 ;

K·文策尔 ;

R·米勒 .

德国专利 :CN119438302A ,2025-02-14

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