一种双入射角度式太赫兹时域光谱涂层测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010489036.6
申请日
2020-06-02
公开(公告)号
CN111536885B
公开(公告)日
2020-08-14
发明(设计)人
曲秋红 李萌
申请人
申请人地址
300450 天津市滨海新区华苑产业区(环外)海泰华科一路15号5幢201室
IPC主分类号
G01B1106
IPC分类号
G01N2141
代理机构
北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11638
代理人
王新爱
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种太赫兹时域光谱系统及其测量方法 [P]. 
宝日玛 ;
董晨 ;
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[2]
基于太赫兹时域光谱的等离子体密度测量方法 [P]. 
孙金海 ;
蔡禾 ;
朱先立 ;
张旭涛 ;
李进春 ;
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[3]
一种基于太赫兹时域光谱系统的应力测量方法 [P]. 
王志勇 ;
王世斌 ;
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[4]
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黄异 ;
黄永林 ;
钟舜聪 ;
陈志雄 ;
庄彩虹 ;
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刘鑫财 .
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[5]
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满润昕 ;
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[6]
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[7]
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庄羽轩 ;
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[8]
基于太赫兹时域光谱的聚乳酸中α′和α晶型含量测量方法 [P]. 
杨斌 ;
朱振琦 ;
张洵 ;
边玉靖 .
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[9]
一种太赫兹泵浦-太赫兹探测时域光谱系统 [P]. 
张德保 ;
刘剑锐 ;
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[10]
一种太赫兹时域光谱测量系统 [P]. 
袁英豪 ;
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