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检查装置和检查装置的清洁化方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910625558.1
申请日
:
2019-07-11
公开(公告)号
:
CN110780176B
公开(公告)日
:
2020-02-11
发明(设计)人
:
远藤朋也
小西显太朗
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01R3126
IPC分类号
:
G01R3128
B08B502
代理机构
:
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
:
刘新宇;张会华
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-10-04
授权
授权
2020-03-06
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20190711
2020-02-11
公开
公开
共 50 条
[1]
检查装置中的清洁方法和检查装置
[P].
中山博之
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
中山博之
.
中国专利
:CN111650405A
,2020-09-11
[2]
检查装置和使用检查装置的检查方法
[P].
申正勳
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星显示有限公司
三星显示有限公司
申正勳
;
俞相旭
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星显示有限公司
三星显示有限公司
俞相旭
;
李埈诚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星显示有限公司
三星显示有限公司
李埈诚
;
金兑俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星显示有限公司
三星显示有限公司
金兑俊
.
韩国专利
:CN117590104A
,2024-02-23
[3]
检查装置和检查方法
[P].
金子正明
论文数:
0
引用数:
0
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0
金子正明
;
中山均
论文数:
0
引用数:
0
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0
中山均
;
铃木英利
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
铃木英利
.
中国专利
:CN1576777A
,2005-02-09
[4]
检查装置和检查方法
[P].
小西显太朗
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
东京毅力科创株式会社
东京毅力科创株式会社
小西显太朗
.
日本专利
:CN117981064A
,2024-05-03
[5]
检查装置和检查方法
[P].
片根忠弘
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
日立产业控制解决方案有限公司
日立产业控制解决方案有限公司
片根忠弘
;
袖山敦史
论文数:
0
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0
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0
机构:
日立产业控制解决方案有限公司
日立产业控制解决方案有限公司
袖山敦史
;
桐生望
论文数:
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0
机构:
日立产业控制解决方案有限公司
日立产业控制解决方案有限公司
桐生望
;
津岛和纪
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
日立产业控制解决方案有限公司
日立产业控制解决方案有限公司
津岛和纪
;
品田勋
论文数:
0
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0
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0
机构:
日立产业控制解决方案有限公司
日立产业控制解决方案有限公司
品田勋
;
日下隆浩
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
日立产业控制解决方案有限公司
日立产业控制解决方案有限公司
日下隆浩
.
日本专利
:CN119546947A
,2025-02-28
[6]
检查装置和检查方法
[P].
保坂广树
论文数:
0
引用数:
0
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0
保坂广树
;
秋山收司
论文数:
0
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0
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秋山收司
;
带金正
论文数:
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0
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0
带金正
.
中国专利
:CN101071784B
,2007-11-14
[7]
检查装置和检查方法
[P].
森数洋司
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社迪思科
株式会社迪思科
森数洋司
.
日本专利
:CN113494993B
,2025-10-21
[8]
检查装置和检查方法
[P].
藤木翔太
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
雷射科技股份有限公司
雷射科技股份有限公司
藤木翔太
;
西村良浩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
雷射科技股份有限公司
雷射科技股份有限公司
西村良浩
.
日本专利
:CN119269457A
,2025-01-07
[9]
检查装置和检查方法
[P].
杉山清隆
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
杉山清隆
.
日本专利
:CN120659864A
,2025-09-16
[10]
检查装置和检查方法
[P].
吉川透
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吉川透
.
中国专利
:CN101680848B
,2010-03-24
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