基于倍频半导体激光的气态元素汞浓度检测装置及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610674257.4
申请日
2016-08-16
公开(公告)号
CN106370621A
公开(公告)日
2017-02-01
发明(设计)人
娄秀涛 林宏泽 邓天瑞 万莉 王俊楠 何赛灵
申请人
申请人地址
215500 江苏省苏州市常熟市东南开发区汇金三路东东南会1号楼
IPC主分类号
G01N2139
IPC分类号
代理机构
北京航信高科知识产权代理事务所(普通合伙) 11526
代理人
周良玉
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种基于波长调制技术的气态元素汞浓度检测装置 [P]. 
娄秀涛 ;
林宏泽 ;
王俊楠 ;
万莉 ;
何赛灵 .
中国专利 :CN206038530U ,2017-03-22
[2]
基于环形谐振腔倍频结构的气态汞浓度检测装置及方法 [P]. 
林宏泽 ;
蒋鹏 ;
佘青山 ;
席旭刚 ;
林广 ;
吴翔 ;
魏凯华 .
中国专利 :CN109239009A ,2019-01-18
[3]
基于同步扫描和频半导体激光的汞气检测装置 [P]. 
娄秀涛 ;
张铁 ;
林宏泽 ;
万莉 ;
王俊楠 ;
何赛灵 .
中国专利 :CN106404690A ,2017-02-15
[4]
一种气态元素汞检测方法 [P]. 
郑海明 .
中国专利 :CN103163100B ,2013-06-19
[5]
半导体激光自混合次声波检测装置及检测方法 [P]. 
李成伟 ;
黄贞 ;
孙晓刚 .
中国专利 :CN102721461A ,2012-10-10
[6]
基于半导体激光器的混沌激光测距方法及装置 [P]. 
王云才 ;
王冰洁 ;
王安帮 .
中国专利 :CN1831560A ,2006-09-13
[7]
一种基于蓝紫光半导体激光倍频的紫外激光产生装置 [P]. 
杨亮 ;
姜中元 .
中国专利 :CN208385831U ,2019-01-15
[8]
一种基于半导体激光器的金属表面缺陷检测装置及方法 [P]. 
张志杰 ;
董宁琛 ;
尹武良 ;
李岩峰 .
中国专利 :CN109254012A ,2019-01-22
[9]
多气体浓度的检测方法、装置和半导体激光器 [P]. 
金雨豪 ;
唐松 ;
惠利省 ;
杨国文 .
中国专利 :CN120369668B ,2025-09-09
[10]
多气体浓度的检测方法、装置和半导体激光器 [P]. 
金雨豪 ;
唐松 ;
惠利省 ;
杨国文 .
中国专利 :CN120369668A ,2025-07-25