荧光―光学联合断层成像系统及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210408665.7

申请日：

2012-10-23

公开(公告)号：

CN102920434A

公开(公告)日：

2013-02-13

发明(设计)人：

高峰张伟武林会李娇周仲兴张丽敏赵会娟

申请人：

申请人地址：

300072 天津市南开区卫津路92号

IPC主分类号：

A61B500

IPC分类号：

代理机构：

天津才智专利商标代理有限公司 12108

代理人：

王顕

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-11-26	授权	授权
2013-03-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101415523561 IPC(主分类):A61B 5/00 专利申请号:2012104086657 申请日:20121023
2013-02-13	公开	公开

共 50 条

[1]

荧光散射光学断层成像系统及方法 [P].

陈昳丽 ;

付楠 ;

朱艳春 ;

李荣茂 ;

余绍德 ;

陈鸣闽 ;

谢耀钦 .

中国专利 :CN106137129A ,2016-11-23

[2]

一种光学相干断层成像系统及光学相干断层成像方法 [P].

叶欣荣 ;

秦嘉 ;

曾亚光 .

中国专利 :CN107468214A ,2017-12-15

[3]

一种光学相干断层成像系统及光学相干断层成像方法 [P].

叶欣荣 ;

秦嘉 ;

曾亚光 .

中国专利 :CN107468214B ,2024-04-16

[4]

联合成像的光学投影断层成像装置及方法 [P].

朱守平 ;

杨乐 ;

梁继民 ;

屈晓超 ;

陈多芳 ;

赵恒 ;

李军 ;

陈雪利 ;

侯彦宾 ;

田捷 .

中国专利 :CN102499639A ,2012-06-20

[5]

光学相干断层成像系统 [P].

杨旻蔚 ;

丁庆 ;

沈耀春 .

中国专利 :CN108514404B ,2018-09-11

[6]

光学相干断层成像系统 [P].

田洁 .

中国专利 :CN304510250S ,2018-02-16

[7]

大口径光学成像系统成像质量测量装置及测量方法 [P].

王彦 ;

陈金宝 ;

刘文广 ;

周琼 ;

张汉伟 ;

刘鹏飞 ;

张丹 .

中国专利 :CN118670691A ,2024-09-20

[8]

大口径光学成像系统成像质量测量装置及测量方法 [P].

王彦 ;

陈金宝 ;

刘文广 ;

周琼 ;

张汉伟 ;

刘鹏飞 ;

张丹 .

中国专利 :CN118670691B ,2024-11-05

[9]

光学测量系统及光学测量方法 [P].

蔡泰成 ;

吴岱纬 ;

廖冠咏 ;

许国君 ;

许寿文 ;

李允立 .

中国专利 :CN103364078A ,2013-10-23

[10]

透射式液膜成像测量系统及测量方法 [P].

郭鑫 ;

杨荟楠 ;

孙昊 ;

赵畅 ;

陆建民 ;

孙英明 ;

肖超 .

中国专利 :CN118482761A ,2024-08-13

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