一种测试多径衰落的方法、装置和系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200710076193.9
申请日
2007-06-29
公开(公告)号
CN101079675A
公开(公告)日
2007-11-28
发明(设计)人
李成恩 段亚军 尹成刚 秦国强 李健 崔巧云
申请人
申请人地址
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部
IPC主分类号
H04B1700
IPC分类号
H04B1707
代理机构
深圳市君胜知识产权代理事务所
代理人
王永文
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
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[3]
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[8]
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[10]
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廖鲜明 ;
张泽钦 .
中国专利 :CN119135233A ,2024-12-13