偏压测试电路及系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921266710.3

申请日：

2019-08-06

公开(公告)号：

CN210572657U

公开(公告)日：

2020-05-19

发明(设计)人：

黄小明黄康

申请人：

申请人地址：

310000 浙江省杭州市滨江区西兴街道江陵路88号10幢南座1-11层、2幢A区1-3楼、2幢B区2楼

IPC主分类号：

G01R3140

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

徐丽

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-19	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片管脚测试电路及测试系统 [P].

罗春艺 ;

李刚 .

中国专利 :CN215866993U ,2022-02-18

[2]

测试电路、测试方法、测试系统及存储介质 [P].

李翔 ;

时洁 .

中国专利 :CN119335346A ,2025-01-21

[3]

测试电路及测试系统 [P].

吴永隆 ;

孙瑞 ;

何文基 ;

朱铭 .

中国专利 :CN221378435U ,2024-07-19

[4]

测试电路、测试系统及测试方法 [P].

吴永隆 ;

孙瑞 ;

何文基 ;

朱铭 .

中国专利 :CN117631339A ,2024-03-01

[5]

偏压电路系统与偏压方法 [P].

杨军 ;

刘剑 .

中国专利 :CN112187249B ,2024-12-17

[6]

偏压电路系统与偏压方法 [P].

杨军 ;

刘剑 .

中国专利 :CN112187249A ,2021-01-05

[7]

一种接口芯片测试电路及测试系统 [P].

明迪生 ;

陶利春 .

中国专利 :CN221174873U ,2024-06-18

[8]

电源测试电路及系统 [P].

郑乃堂 ;

何海波 ;

景洪恩 ;

沙巧 .

中国专利 :CN211378320U ,2020-08-28

[9]

MTJ测试电路及系统 [P].

何世坤 ;

王明 ;

罗飞龙 .

中国专利 :CN212622724U ,2021-02-26

[10]

掉电测试电路及系统 [P].

聂睿 ;

解卫华 ;

薛激光 ;

王丹 ;

李延 ;

李建强 ;

张海晶 ;

曲胜波 ;

周斌 ;

时凯 .

中国专利 :CN119415342A ,2025-02-11

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