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电容测量系统和方法
被引:0
申请号
:
CN201980101101.9
申请日
:
2019-08-14
公开(公告)号
:
CN114556786A
公开(公告)日
:
2022-05-27
发明(设计)人
:
张俊
潘姚华
申请人
:
申请人地址
:
美国德克萨斯州
IPC主分类号
:
H03K17955
IPC分类号
:
H03K1796
G06F3044
代理机构
:
北京纪凯知识产权代理有限公司 11245
代理人
:
徐东升
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-08-19
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H03K 17/955 申请日:20190814
2022-05-27
公开
公开
共 50 条
[1]
电容层析成像电容测量系统
[P].
王保良
论文数:
0
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0
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王保良
;
黄志尧
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黄志尧
;
李海青
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李海青
.
中国专利
:CN1378080A
,2002-11-06
[2]
电容测量系统、方法和装置
[P].
杨宏
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杨宏
;
任立华
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任立华
;
张敏
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张敏
;
吕尧明
论文数:
0
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0
吕尧明
.
中国专利
:CN108519521A
,2018-09-11
[3]
变频微变小电容测量系统
[P].
司光华
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司光华
.
中国专利
:CN1062214A
,1992-06-24
[4]
在片电容测量系统和测量方法
[P].
丁晨
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机构:
中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
丁晨
;
刘岩
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机构:
中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
刘岩
;
吴爱华
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机构:
中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
吴爱华
;
乔玉娥
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机构:
中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
乔玉娥
;
翟玉卫
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0
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机构:
中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
翟玉卫
;
任宇龙
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机构:
中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
任宇龙
;
丁立强
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机构:
中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
丁立强
.
中国专利
:CN113866511B
,2024-04-16
[5]
在片电容测量系统和测量方法
[P].
丁晨
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丁晨
;
刘岩
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刘岩
;
吴爱华
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吴爱华
;
乔玉娥
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乔玉娥
;
翟玉卫
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翟玉卫
;
任宇龙
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任宇龙
;
丁立强
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丁立强
.
中国专利
:CN113866511A
,2021-12-31
[6]
电容测量系统及电容测量方法
[P].
范盛淳
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范盛淳
;
曾建铭
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曾建铭
.
中国专利
:CN105988041A
,2016-10-05
[7]
电容测量辅助装置、电容测量系统及方法
[P].
樊强
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樊强
.
中国专利
:CN107543971A
,2018-01-05
[8]
鲁棒、低成本的电容测量系统
[P].
L·拉梅施
论文数:
0
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0
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L·拉梅施
.
中国专利
:CN110249230B
,2019-09-17
[9]
电容测量工装及电容测量系统
[P].
雪津严
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机构:
数邦电力科技有限公司
数邦电力科技有限公司
雪津严
;
杨甫中
论文数:
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机构:
数邦电力科技有限公司
数邦电力科技有限公司
杨甫中
.
中国专利
:CN223582044U
,2025-11-21
[10]
积分时间和/或电容测量系统、方法及设备
[P].
詹姆斯·E·巴特林
论文数:
0
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0
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0
詹姆斯·E·巴特林
.
中国专利
:CN101578526B
,2009-11-11
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