真圆度量测装置及真圆度量测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510500018.2

申请日：

2015-08-14

公开(公告)号：

CN106289027A

公开(公告)日：

2017-01-04

发明(设计)人：

范光照许智钦

申请人：

申请人地址：

中国台湾新北市土城区忠承路123号2楼

IPC主分类号：

G01B5207

IPC分类号：

代理机构：

上海波拓知识产权代理有限公司 31264

代理人：

杨波

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-01-04	公开	公开
2020-07-31	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 5/207 申请日:20150814 授权公告日:20181130 终止日期:20190814
2017-02-01	实质审查的生效	实质审查的生效专利申请号:2015105000182 申请日:20150814 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101700806079 IPC(主分类):G01B 5/207
2018-11-30	授权	授权

共 50 条

[1]

非接触式环形物件真圆度量测装置 [P].

张志源 .

中国专利 :CN115307566A ,2022-11-08

[2]

粘度量测装置及粘度量测方法 [P].

黄龙田 ;

杨杰舜 ;

萧存佑 .

中国专利 :CN114441382A ,2022-05-06

[3]

粘度量测装置及粘度量测方法 [P].

黄龙田 ;

杨杰舜 ;

萧存佑 .

中国专利 :CN114441382B ,2025-03-25

[4]

长度量测方法与长度量测装置 [P].

曹文俊 ;

张耀宗 ;

李佳宪 .

中国专利 :CN104665836B ,2015-06-03

[5]

温度量测装置 [P].

林增隆 ;

陈依伶 ;

古勤徽 .

中国专利 :CN118482832A ,2024-08-13

[6]

高度量测装置及其方法 [P].

张耀宗 ;

李佳宪 ;

林百洋 ;

钟顺麒 .

中国专利 :CN104720815B ,2015-06-24

[7]

厚度量测装置及其方法 [P].

蔡正欣 ;

张乐天 .

中国专利 :CN102410822A ,2012-04-11

[8]

薄膜厚度量测装置 [P].

谢国卿 .

中国专利 :CN1743791A ,2006-03-08

[9]

角度量测装置 [P].

杰克陈 .

中国专利 :CN201163176Y ,2008-12-10

[10]

厚度量测装置 [P].

詹益池 ;

李信兴 .

中国专利 :CN201440069U ,2010-04-21

← 1 2 3 4 5 →