一种LED芯片的检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710078657.X

申请日：

2007-06-27

公开(公告)号：

CN100573173C

公开(公告)日：

2007-11-21

发明(设计)人：

文玉梅李平李恋文静

申请人：

申请人地址：

400044重庆市沙坪坝区沙正街174号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

H01L2166

代理机构：

重庆弘旭专利代理有限责任公司

代理人：

周韶红

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-11-21	公开	公开
2008-01-16	实质审查的生效	实质审查的生效
2009-12-23	授权	授权
2013-08-21	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101508722108 IPC(主分类):G01R 31/26 专利号:ZL200710078657X 申请日:20070627 授权公告日:20091223 终止日期:20120627

共 50 条

[1]

基于视觉的LED芯片质量检测方法 [P].

曹衍龙 ;

陈洪凯 ;

张琪琦 ;

刘婷 ;

孙沛泽 .

中国专利 :CN110490847B ,2019-11-22

[2]

一种LED芯片的检测装置 [P].

奚志成 ;

陈汉宗 ;

丁振峰 .

中国专利 :CN208125636U ,2018-11-20

[3]

一种LED芯片检测设备及检测方法 [P].

刘天明 ;

邓光洪 ;

杨冲 ;

王洪贯 .

中国专利 :CN108246657A ,2018-07-06

[4]

一种LED芯片的检测方法 [P].

薛蕾 ;

肖千宇 ;

高本良 ;

李浩然 ;

徐正胤 ;

常远 ;

张少峰 ;

薛飞飞 .

中国专利 :CN106493094A ,2017-03-15

[5]

一种漏电LED芯片的检测方法 [P].

吴亦容 ;

庄家铭 ;

陈凯 ;

赵兵 .

中国专利 :CN109342915A ,2019-02-15

[6]

LED芯片检测装置及LED芯片检测方法 [P].

赵改娜 .

中国专利 :CN112629827A ,2021-04-09

[7]

LED芯片检测方法 [P].

刘召军 ;

刘斌芝 ;

邱成峰 ;

莫炜静 .

中国专利 :CN112750714A ,2021-05-04

[8]

大功率LED芯片封装质量检测方法 [P].

林振衡 ;

陈军 ;

李文芳 .

中国专利 :CN103364707B ,2013-10-23

[9]

一种LED芯片/晶圆的非接触式检测方法 [P].

李平 ;

文玉梅 ;

文静 ;

李恋 .

中国专利 :CN101581760A ,2009-11-18

[10]

一种LED芯片/晶圆的非接触式检测方法 [P].

李平 ;

文玉梅 ;

文静 ;

李恋 .

中国专利 :CN100582802C ,2008-01-16

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