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一种薄膜测厚仪及其提升机构

被引：0
申请号：
CN202222095019.1
申请日：
2022-08-10
公开(公告)号：
CN217818664U
公开(公告)日：
2022-11-15
发明(设计)人：
贺兴潭
申请人：
申请人地址：
215127 江苏省苏州市工业园区苏虹中路399号
IPC主分类号：
G01B2108
IPC分类号：
F16H3712
代理机构：
苏州创元专利商标事务所有限公司 32103
代理人：
范晴;徐律
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-11-15 授权 授权
共 50 条
[1]
薄膜测厚仪的提升机构 [P]. 
万旭萌 .
中国专利 :CN214372360U ,2021-10-08
[2]
一种薄膜测厚仪测头机构 [P]. 
任万营 .
中国专利 :CN222670917U ,2025-03-25
[3]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
肖锋 ;
朱键武 ;
余安展 .
中国专利 :CN214039932U ,2021-08-24
[4]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
何伟 .
中国专利 :CN223636809U ,2025-12-05
[5]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
黄新禄 ;
杨火清 ;
魏宇航 .
中国专利 :CN209745258U ,2019-12-06
[6]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
王志亮 ;
邓方真 .
中国专利 :CN221612061U ,2024-08-27
[7]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
王中伟 ;
赵海奇 .
中国专利 :CN210513085U ,2020-05-12
[8]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
张春华 ;
秦志红 .
中国专利 :CN208536810U ,2019-02-22
[9]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
李让峰 .
中国专利 :CN205373683U ,2016-07-06
[10]
一种薄膜测厚仪 [P]. 
林长蕉 .
中国专利 :CN207907845U ,2018-09-25
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