自动化测试方法、装置及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911166770.2

申请日：

2019-11-25

公开(公告)号：

CN110908848A

公开(公告)日：

2020-03-24

发明(设计)人：

袁峰付发田

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区自由贸易试验区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-03-24	公开	公开
2020-04-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20191125

共 50 条

[1]

自动化测试方法、装置及存储介质 [P].

吴燕君 .

中国专利 :CN110781074A ,2020-02-11

[2]

自动化测试方法及装置、存储介质、计算机设备 [P].

杨超群 .

中国专利 :CN119473892A ,2025-02-18

[3]

自动化测试方法、装置、存储介质及设备 [P].

张乐源 .

中国专利 :CN110908909A ,2020-03-24

[4]

自动化测试方法、设备、存储介质及装置 [P].

古英杰 ;

申佳 ;

郑周 ;

王海强 ;

石时党 ;

谭俊 ;

聂兰彬 ;

张义泽 ;

初瑞 ;

舒敏根 .

中国专利 :CN117667740A ,2024-03-08

[5]

自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

喻春萍 ;

汪杰 ;

黄威 ;

郑盼 .

中国专利 :CN118519920A ,2024-08-20

[6]

自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

封如 ;

刘宇康 ;

涂莹 ;

姚利花 .

中国专利 :CN119415385A ,2025-02-11

[7]

自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

王闪闪 .

中国专利 :CN115599683A ,2023-01-13

[8]

自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

李凤兰 ;

张戴克 ;

陈强 ;

王涵 .

中国专利 :CN118606160A ,2024-09-06

[9]

模型自动化测试方法、装置及存储介质 [P].

涂植跑 ;

浦贵阳 ;

程耀 .

中国专利 :CN112527676A ,2021-03-19

[10]

自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈庚申 .

中国专利 :CN111475417A ,2020-07-31

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