一种介质材料高温复介电常数测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201120431227.3

申请日：

2011-11-04

公开(公告)号：

CN202383208U

公开(公告)日：

2012-08-15

发明(设计)人：

郭高凤李恩王益聂瑞星周杨高源慈陶冰洁

申请人：

申请人地址：

611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号

IPC主分类号：

G01R2726

IPC分类号：

代理机构：

电子科技大学专利中心 51203

代理人：

葛启函

法律状态：

避免重复授权放弃专利权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-07-17	避免重复授权放弃专利权	避免重复授权放弃专利权号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101632226053 IPC(主分类):G01R 27/26 专利号:ZL2011204312273 申请日:20111104 授权公告日:20120815 放弃生效日:20130717
2012-08-15	授权	授权

共 50 条

[1]

一种介质材料高温复介电常数测量装置 [P].

郭高凤 ;

李恩 ;

王益 ;

聂瑞星 ;

周杨 ;

高源慈 ;

陶冰洁 .

中国专利 :CN102393490B ,2012-03-28

[2]

一种VHF频段复介电常数测量装置 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN108318746A ,2018-07-24

[3]

一种VHF频段复介电常数测量装置 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN208092134U ,2018-11-13

[4]

一种微波闭式谐振腔复介电常数测量装置 [P].

王益 ;

张翠翠 ;

王建忠 ;

魏竹 .

中国专利 :CN104965127A ,2015-10-07

[5]

复介电常数测量装置 [P].

吴昌英 ;

韦高 ;

许家栋 .

中国专利 :CN101126778A ,2008-02-20

[6]

介质薄膜微波复介电常数的测量装置 [P].

王德苗 ;

金浩 ;

董树荣 ;

谢银芳 .

中国专利 :CN1834667A ,2006-09-20

[7]

一种基于准光学谐振腔的介质材料复介电常数测试装置 [P].

李恩 ;

郭高凤 ;

何凤梅 ;

陈聪慧 ;

戈弋 ;

高源慈 ;

聂瑞星 .

中国专利 :CN102707155A ,2012-10-03

[8]

一种基于准光学谐振腔的介质材料复介电常数测试装置 [P].

李恩 ;

郭高凤 ;

何凤梅 ;

陈聪慧 ;

戈弋 ;

高源慈 ;

聂瑞星 .

中国专利 :CN202661552U ,2013-01-09

[9]

基于SRR的复介电常数测量装置及测量方法 [P].

董晶 ;

申发中 ;

皇甫江涛 ;

冉立新 .

中国专利 :CN103675466A ,2014-03-26

[10]

一种介电材料微波复介电常数自动测量系统 [P].

张利波 ;

马洪业 ;

刘晨辉 ;

彭金辉 ;

刘秉国 .

中国专利 :CN207067253U ,2018-03-02

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