一种IGBT模块内部芯片结温测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201611050121.2
申请日
2016-11-21
公开(公告)号
CN106771946A
公开(公告)日
2017-05-31
发明(设计)人
王志超 卢小东 徐妙玲 季莎 崔志勇 胡羽中
申请人
申请人地址
101111 北京市通州区经济技术开发区通惠干渠路17号院
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
代理机构
北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003
代理人
尹振启;张宇锋
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种用于IGBT模块结温的测试装置 [P]. 
段亚雄 ;
杨林 ;
张松平 ;
易杰 ;
陈凯 ;
杨志兵 .
中国专利 :CN208459538U ,2019-02-01
[2]
IGBT模块内部芯片结温测量系统、测量方法及IGBT模块 [P]. 
夏铸亮 ;
梁灵威 ;
赵小坤 ;
王明亮 ;
陈平 ;
刘呈超 .
中国专利 :CN113092974B ,2024-08-23
[3]
IGBT模块内部芯片结温测量系统、测量方法及IGBT模块 [P]. 
夏铸亮 ;
梁灵威 ;
赵小坤 ;
王明亮 ;
陈平 ;
刘呈超 .
中国专利 :CN113092974A ,2021-07-09
[4]
IGBT模块结温监测方法与装置 [P]. 
祝令瑜 ;
汲胜昌 ;
焦乾明 ;
占草 ;
刘占磊 ;
张雅欣 ;
王伟丞 ;
唐义政 .
中国专利 :CN115561608A ,2023-01-03
[5]
一种IGBT结温在线监测方法及其测量电路 [P]. 
王志超 ;
卢小东 ;
徐妙玲 ;
季莎 ;
崔志勇 ;
胡羽中 .
中国专利 :CN106771945A ,2017-05-31
[6]
一种IGBT结温估算方法 [P]. 
彭志远 ;
斯红路 ;
王海兵 ;
陈国利 ;
兰鹏宇 ;
杨胜前 ;
邓涛 ;
黄清蓝 ;
廖自卫 .
中国专利 :CN118589955A ,2024-09-03
[7]
一种IGBT结温监测装置及方法 [P]. 
张品佳 ;
杨雁勇 ;
夏科睿 ;
闵锐 .
中国专利 :CN110658435A ,2020-01-07
[8]
一种IGBT模块的结温检测方法 [P]. 
徐妙香 ;
刘岩 ;
冯文谦 ;
陈文照 ;
陈运夫 ;
罗祖云 ;
黄祖德 ;
李文怡 ;
钟贞刚 ;
陈杰 ;
文金街 ;
陈升杰 ;
陈河经 ;
文俏鹏 ;
张天玮 .
中国专利 :CN119959720A ,2025-05-09
[9]
一种IGBT模块的结温预测方法 [P]. 
朱相军 ;
张进 ;
黄进 ;
罗建武 ;
饶健 .
中国专利 :CN112560382A ,2021-03-26
[10]
一种IGBT模块的结温预测方法 [P]. 
王跃 ;
周晖 ;
王璋 ;
尹诗媛 ;
尹太元 ;
段国朝 .
中国专利 :CN107025364B ,2017-08-08