一种新型静电放电测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202022727338.0
申请日
2020-11-23
公开(公告)号
CN214041578U
公开(公告)日
2021-08-24
发明(设计)人
杨洪亮 何琼琼
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区华宁路东龙兴科技园1号厂房101
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
G01R104
代理机构
深圳市创富知识产权代理有限公司 44367
代理人
肖琪
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
静电放电测试装置及静电放电测试方法 [P]. 
刘焱 .
中国专利 :CN107179456A ,2017-09-19
[2]
一种芯片静电放电测试装置 [P]. 
宋鑫欣 .
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[3]
静电放电测试装置 [P]. 
陈贺 ;
韩竹梅 ;
苗可彬 ;
李秋云 ;
董世豪 ;
刘涛 ;
杨占龙 ;
辛中华 .
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[4]
静电放电测试装置 [P]. 
张云洋 ;
姜晓萌 ;
张竣 ;
任甜甜 ;
郭光亮 .
中国专利 :CN115343552B ,2025-10-10
[5]
静电放电测试装置 [P]. 
张云洋 ;
姜晓萌 ;
张竣 ;
任甜甜 ;
郭光亮 .
中国专利 :CN115343552A ,2022-11-15
[6]
静电放电测试装置 [P]. 
季竹青 .
中国专利 :CN101149414A ,2008-03-26
[7]
一种静电放电测试装置 [P]. 
王东 ;
孙文艺 .
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[8]
一种静电放电测试装置 [P]. 
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李亮 ;
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中国专利 :CN209327457U ,2019-08-30
[9]
一种用于静电放电测试的耦合板组件及静电放电测试装置 [P]. 
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中国专利 :CN105738734A ,2016-07-06
[10]
一种键盘静电放电测试装置 [P]. 
郝祥友 ;
谢金良 ;
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