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一种位移传感器性能检测设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201120375972.0
申请日：
2011-09-28
公开(公告)号：
CN202267466U
公开(公告)日：
2012-06-06
发明(设计)人：
方磊
谢烽
容冬平
王中杰
申请人：
申请人地址：
430070 湖北省武汉市石牌岭路118号机电研究院49栋2楼
IPC主分类号：
G01B2102
IPC分类号：
代理机构：
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102
代理人：
乔宇
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2012-06-06 | 授权 | 授权 |
| 2021-10-22 | 专利权的终止 | 专利权有效期届满 IPC(主分类):G01B 21/02 申请日:20110928 授权公告日:20120606 |