光学元件检测方法、装置、电子设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810403817.1

申请日：

2018-04-28

公开(公告)号：

CN108716982A

公开(公告)日：

2018-10-30

发明(设计)人：

谭国辉白剑田志华

申请人：

申请人地址：

523860 广东省东莞市长安镇乌沙海滨路18号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

方高明

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-01-10	授权	授权
2018-10-30	公开	公开
2018-11-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20180428

共 50 条

[1]

光学元件检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

谭国辉 ;

白剑 ;

田志华 .

中国专利 :CN108600740B ,2018-09-28

[2]

光学元件检测方法和装置、电子设备、存储介质 [P].

谭国辉 ;

白剑 ;

田志华 .

中国专利 :CN108716983A ,2018-10-30

[3]

光学元件检测方法和装置、电子设备、可读存储介质 [P].

谭国辉 ;

周海涛 ;

谭筱 .

中国专利 :CN108760245A ,2018-11-06

[4]

用于光学元件的检测方法、系统、电子设备和存储介质 [P].

张任杰 .

中国专利 :CN118482896A ,2024-08-13

[5]

电子设备、检测方法和存储介质 [P].

解智博 ;

王玺 .

中国专利 :CN118542675A ,2024-08-27

[6]

电子设备、检测方法和存储介质 [P].

解智博 ;

王玺 .

中国专利 :CN116350228B ,2024-03-15

[7]

光学元件表面缺陷的检测方法、装置及电子设备 [P].

崔世君 ;

王建成 ;

胥洁浩 ;

金玲 ;

赵俊瑞 ;

韩雪 .

中国专利 :CN114565552B ,2025-09-09

[8]

光学元件表面缺陷的检测方法、装置及电子设备 [P].

崔世君 ;

王建成 ;

胥洁浩 ;

金玲 ;

赵俊瑞 ;

韩雪 .

中国专利 :CN114565552A ,2022-05-31

[9]

文本检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

牛太阳 ;

王佩雅 .

中国专利 :CN115393868A ,2022-11-25

[10]

检测方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

陈鲁 ;

耿亚鹏 ;

陈驰 ;

赵燕 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114299049B ,2025-11-25

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