48线扁平封装集成电路老化测试插座

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200720109199.7

申请日：

2007-05-10

公开(公告)号：

CN201112793Y

公开(公告)日：

2008-09-10

发明(设计)人：

曹宏国

申请人：

申请人地址：

313119浙江省长兴县槐坎乡新街电子厂108号

IPC主分类号：

H01R1346

IPC分类号：

H01R1311 H01R13639 H01R13629 G01R102 G01R3126

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-07-13	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101087108598 IPC(主分类):H01R 13/46 专利号:ZL2007201091997 申请日:20070510 授权公告日:20080910 终止日期:20100510
2009-08-19	专利申请权、专利权的转移(专利权的转移)	专利申请权、专利权的转移(专利权的转移) 变更事项:专利权人变更前权利人:曹宏国变更后权利人:浙江长兴电子厂有限公司变更事项:地址变更前:浙江省长兴县槐坎乡新街电子厂108号,邮编:313119 变更后:浙江省长兴县槐坎乡振槐路86号,邮编:313119 登记生效日:20090710
2008-09-10	授权	授权

共 50 条

[1]

28线陶瓷扁平封装集成电路老化试验插座 [P].

曹宏国 .

中国专利 :CN201112796Y ,2008-09-10

[2]

16线陶瓷扁平封装集成电路老化试验插座 [P].

曹宏国 .

中国专利 :CN201112795Y ,2008-09-10

[3]

44线陶瓷小外形封装集成电路老化测试插座 [P].

曹宏国 .

中国专利 :CN201112794Y ,2008-09-10

[4]

40线扁平封装混合集成电路老化试验插座 [P].

曹宏国 .

中国专利 :CN2786830Y ,2006-06-07

[5]

36线陶瓷四边引线扁平封装集成电路老化试验插座 [P].

曹宏国 .

中国专利 :CN201112798Y ,2008-09-10

[6]

24线陶瓷双列封装集成电路老化试验插座 [P].

曹宏国 .

中国专利 :CN201112791Y ,2008-09-10

[7]

24线陶瓷双列封装集成电路老化试验插座 [P].

曹宏国 .

中国专利 :CN201112792Y ,2008-09-10

[8]

56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座 [P].

曹宏国 .

中国专利 :CN201918561U ,2011-08-03

[9]

132线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座 [P].

曹金学 .

中国专利 :CN201910526U ,2011-07-27

[10]

144线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座 [P].

曹金学 .

中国专利 :CN201910525U ,2011-07-27

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