指标测试方法、介质、装置和计算设备

被引：0

申请号：

CN202211017268.7

申请日：

2022-08-23

公开(公告)号：

CN115373990A

公开(公告)日：

2022-11-22

发明(设计)人：

李辉陈逸青梁策甘大为韩慧

申请人：

申请人地址：

310052 浙江省杭州市滨江区长河街道网商路599号4幢411室

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

杨文娟;刘芳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-22	公开	公开
2022-12-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220823

共 50 条

[1]

指标测试方法、装置、设备、介质和程序产品 [P].

叶裕洋 ;

任恺琦 .

中国专利 :CN119357042A ,2025-01-24

[2]

测试方法、装置、计算设备以及介质 [P].

曹偲 ;

其他发明人请求不公开姓名 .

中国专利 :CN113485909A ,2021-10-08

[3]

确定测试模板的方法、装置、计算设备和存储介质 [P].

张晓东 ;

杨宸骅 ;

梁广泰 .

中国专利 :CN114253828A ,2022-03-29

[4]

确定测试模板的方法、装置、计算设备和存储介质 [P].

张晓东 ;

杨宸骅 ;

梁广泰 .

中国专利 :CN114253828B ,2025-08-05

[5]

前端测试方法、装置、设备、介质和程序产品 [P].

林青青 ;

郑培龙 .

中国专利 :CN120929381A ,2025-11-11

[6]

测试方法、介质、装置和计算设备 [P].

虞学良 ;

张文 ;

胡涛 ;

李敏 ;

洪权 .

中国专利 :CN113849417B ,2025-03-25

[7]

测试方法、介质、装置和计算设备 [P].

虞学良 ;

张文 ;

胡涛 ;

李敏 ;

洪权 .

中国专利 :CN113849417A ,2021-12-28

[8]

程序测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

孔改捧 ;

张宇 .

中国专利 :CN113722203A ,2021-11-30

[9]

业务测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

柏甫 .

中国专利 :CN112433944A ,2021-03-02

[10]

压力测试的方法、装置、设备和计算机可读介质 [P].

姜帅臣 ;

仇雨辰 .

中国专利 :CN118897787A ,2024-11-05

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