一种双工位晶片自动测试分选机

被引：0

申请号：

CN202122819080.1

申请日：

2021-11-17

公开(公告)号：

CN216500812U

公开(公告)日：

2022-05-13

发明(设计)人：

潘东东张明李天宝汪晓虎谢凡朱成

申请人：

申请人地址：

441300 湖北省随州市曾都经济开发区

IPC主分类号：

B07C502

IPC分类号：

B07C534 B07C536 B07C538

代理机构：

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法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-13	授权	授权

共 50 条

[1]

一种双工位晶片自动测试分选机 [P].

潘东东 ;

张明 ;

李天宝 ;

汪晓虎 ;

谢凡 ;

朱成 .

中国专利 :CN113953198A ,2022-01-21

[2]

一种晶片自动测试分选机 [P].

李天宝 ;

张明 ;

潘东东 ;

汪晓虎 ;

谢凡 ;

朱成 .

中国专利 :CN216500813U ,2022-05-13

[3]

一种晶片自动测试分选机 [P].

李天宝 ;

张明 ;

潘东东 ;

汪晓虎 ;

谢凡 ;

朱成 .

中国专利 :CN113953197A ,2022-01-21

[4]

一种自动测试分选机 [P].

李春 ;

孙志刚 .

中国专利 :CN218251598U ,2023-01-10

[5]

一种四工位自动测试分选机 [P].

萧宁辉 ;

卢毅 .

中国专利 :CN117753689A ,2024-03-26

[6]

一种自动测试分选机 [P].

张新齐 ;

刘慧艳 .

中国专利 :CN211330323U ,2020-08-25

[7]

一种自动测试分选机 [P].

何克里 ;

赵华桥 .

中国专利 :CN205270178U ,2016-06-01

[8]

一种自动测试分选机 [P].

李庆嘉 .

中国专利 :CN203426071U ,2014-02-12

[9]

光电鼠标集成电路双工位自动测试分选机 [P].

王冬华 ;

姜一平 .

中国专利 :CN212791932U ,2021-03-26

[10]

自动测试分选机用分选结构 [P].

张新齐 ;

刘慧艳 ;

蔡晓东 .

中国专利 :CN218167829U ,2022-12-30

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