微分相位对比成像系统的校准

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201080055691.5

申请日：

2010-12-08

公开(公告)号：

CN102651994A

公开(公告)日：

2012-08-29

发明(设计)人：

G·福格特米尔 K·J·恩格尔 D·格勒 T·克勒 E·勒斯尔

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

A61B100

IPC分类号：

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

陈松涛;韩宏

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-01-16	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101380917533 IPC(主分类):A61B 1/00 专利申请号:2010800556915 申请日:20101208
2012-08-29	公开	公开
2016-05-25	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101733006808 IPC(主分类):A61B 1/00 专利申请号:2010800556915 申请公布日:20120829

共 50 条

[1]

微分相位对比成像 [P].

E·勒斯尔 .

中国专利 :CN103189739B ,2013-07-03

[2]

微分相位对比成像 [P].

E·勒斯尔 .

中国专利 :CN103168228B ,2013-06-19

[3]

利用改善的采样的微分相位对比成像 [P].

T·克勒 .

中国专利 :CN103079469B ,2013-05-01

[4]

在微分相位对比成像中对齐源光栅到相位光栅距离以用于多阶相位调谐 [P].

G·马滕斯 ;

H·德尔 ;

T·D·伊斯特尔 ;

E·勒斯尔 ;

U·范斯特文达勒 .

中国专利 :CN104582573A ,2015-04-29

[5]

具有聚焦偏转结构板的微分相位对比成像 [P].

E·勒斯尔 ;

T·克勒 .

中国专利 :CN103460301B ,2013-12-18

[6]

微分相位对比显微系统与方法 [P].

骆远 ;

陈锡勋 .

中国专利 :CN109780993B ,2019-05-21

[7]

微分相位对比成像中的规则化的相位恢复 [P].

T·克勒 ;

E·罗塞尔 .

中国专利 :CN103098095A ,2013-05-08

[8]

基于光栅的差分相位对比成像 [P].

R·普罗克绍 .

中国专利 :CN104394770A ,2015-03-04

[9]

用于差分相位对比成像的校准硬件体模 [P].

U·范斯特文达勒 ;

H·德尔 ;

T·克勒 ;

G·马滕斯 ;

E·勒斯尔 .

中国专利 :CN106413556A ,2017-02-15

[10]

利用相位步进进行差分相位对比成像的X射线拍摄系统 [P].

M.斯帕恩 .

中国专利 :CN103876766A ,2014-06-25

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