天基探测与跟踪成像系统测试装置及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110370922.8

申请日：

2011-11-21

公开(公告)号：

CN102393213B

公开(公告)日：

2012-03-28

发明(设计)人：

田留德张周峰薛勋赵建科赛建刚曹昆周艳

申请人：

申请人地址：

710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

IPC主分类号：

G01C2500

IPC分类号：

代理机构：

西安智邦专利商标代理有限公司 61211

代理人：

徐平

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-03-28	公开	公开
2012-05-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101242114759 IPC(主分类):G01C 25/00 专利申请号:2011103709228 申请日:20111121
2015-05-20	授权	授权
2017-01-04	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101696007850 IPC(主分类):G01C 25/00 专利号:ZL2011103709228 申请日:20111121 授权公告日:20150520 终止日期:20151121

共 50 条

[1]

天基探测与跟踪成像系统的测试装置 [P].

田留德 ;

张周峰 ;

薛勋 ;

赵建科 ;

赛建刚 ;

曹昆 ;

周艳 .

中国专利 :CN202329647U ,2012-07-11

[2]

成像系统的测试方法、测试装置 [P].

崔启胤 ;

曹平 ;

董广军 .

中国专利 :CN119469672A ,2025-02-18

[3]

成像系统的成像质量测试方法、测试装置 [P].

崔启胤 ;

曹平 ;

董广军 .

中国专利 :CN118776817A ,2024-10-15

[4]

光电跟踪系统的跟踪性能测试装置及测试方法 [P].

万英 ;

张春仙 ;

张续 .

中国专利 :CN114323563A ,2022-04-12

[5]

测试装置与测试系统 [P].

荀文东 ;

陶子英 .

中国专利 :CN209928942U ,2020-01-10

[6]

基于成像系统的测试设备、测试方法以及测试装置 [P].

吴少颖 .

中国专利 :CN114071126A ,2022-02-18

[7]

测试装置与测试系统 [P].

刘子仪 .

中国专利 :CN217901801U ,2022-11-25

[8]

测试系统及其测试装置与测试方法 [P].

丁伟修 .

中国专利 :CN117732749A ,2024-03-22

[9]

测试装置与测试系统 [P].

陶子英 ;

乔向洋 ;

赵麟瑄 .

中国专利 :CN213276185U ,2021-05-25

[10]

光电设备跟踪性能测试装置、系统及测试方法 [P].

郑存红 ;

杨翔 ;

朱师伦 ;

魏文轩 ;

肖瑜 ;

徐如瑜 .

中国专利 :CN120043737A ,2025-05-27

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