集成电路检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610096852.0

申请日：

2006-10-20

公开(公告)号：

CN101165476B

公开(公告)日：

2008-04-23

发明(设计)人：

周文进陈峰

申请人：

申请人地址：

215101 江苏省苏州市吴中区木渎镇竹园路398号

IPC主分类号：

G01N21898

IPC分类号：

H01L2166 G01R3126

代理机构：

南京苏科专利代理有限责任公司 32102

代理人：

陈忠辉;姚姣阳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-06-18	实质审查的生效	实质审查的生效
2015-12-09	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101636683787 IPC(主分类):G01N 21/898 专利号:ZL2006100968520 申请日:20061020 授权公告日:20110713 终止日期:20141020
2008-04-23	公开	公开
2011-07-13	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路检测机 [P].

张原龙 .

中国专利 :CN1908635A ,2007-02-07

[2]

一种集成电路检测装置 [P].

郑剑华 ;

张元元 ;

孙彬 .

中国专利 :CN210981367U ,2020-07-10

[3]

一种集成电路检测装置 [P].

刘成龙 ;

罗先念 ;

钟玮 .

中国专利 :CN216792373U ,2022-06-21

[4]

一种新型集成电路检测装置 [P].

蔡冬燕 .

中国专利 :CN222319084U ,2025-01-07

[5]

集成电路检测方法 [P].

张胜禹 .

中国专利 :CN117572216A ,2024-02-20

[6]

集成电路检测设备 [P].

黄世轩 .

中国专利 :CN223332886U ,2025-09-12

[7]

一种集成电路检测装置 [P].

何杰 ;

张志平 ;

杜德银 ;

侯爱霞 ;

廖晓娟 .

中国专利 :CN113359012A ,2021-09-07

[8]

一种集成电路检测装置 [P].

杨光 .

中国专利 :CN214201529U ,2021-09-14

[9]

一种集成电路检测装置 [P].

李聪芳 ;

张培磊 ;

王小莉 .

中国专利 :CN218213300U ,2023-01-03

[10]

一种集成电路检测装置 [P].

宁晓川 .

中国专利 :CN218122177U ,2022-12-23

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