解析目标程序以生成测试程序的测试系统及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010199324.4

申请日：

2010-06-09

公开(公告)号：

CN102279788A

公开(公告)日：

2011-12-14

发明(设计)人：

邱全成方慧

申请人：

申请人地址：

中国台湾台北市

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京市浩天知识产权代理事务所 11276

代理人：

刘云贵

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-12-14	公开	公开
2014-02-12	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101690319839 IPC(主分类):G06F 11/36 专利申请号:2010101993244 申请公布日:20111214

共 50 条

[1]

快速获取测试程序以测试主板的测试系统及其方法 [P].

韩潇 .

中国专利 :CN101661396A ,2010-03-03

[2]

测试方法、测试系统、及其程序 [P].

丸野刚治 .

中国专利 :CN1577286A ,2005-02-09

[3]

测试系统及其程序升级方法 [P].

万聪颖 ;

何海平 ;

曾泉 ;

赵悦斌 .

中国专利 :CN118035016A ,2024-05-14

[4]

应用程序测试系统以及应用程序测试方法 [P].

池荣满 .

中国专利 :CN105431829A ,2016-03-23

[5]

程序测试系统及方法 [P].

刘志标 ;

成朝晖 .

中国专利 :CN113094290B ,2024-02-23

[6]

程序测试系统及方法 [P].

林润生 .

中国专利 :CN1225695C ,2003-07-23

[7]

程序测试系统及方法 [P].

刘志标 ;

成朝晖 .

中国专利 :CN113094290A ,2021-07-09

[8]

测试系统、测试方法和测试系统用程序存储介质 [P].

道北俊行 ;

川添宽 ;

古川和树 ;

廣濑翼 ;

盐见健司 .

日本专利 :CN117693673A ,2024-03-12

[9]

轮胎测试方法、轮胎测试系统和程序 [P].

松本繁 ;

松本进一 ;

宫下博至 ;

村内一宏 ;

鸨田修一 .

日本专利 :CN118076871A ,2024-05-24

[10]

一种FPGA芯片、程序测试方法和程序测试系统 [P].

张览 ;

杜金凤 ;

赵方亮 ;

赵井坤 ;

王常慧 ;

张茹 ;

李杨 ;

毕京晓 .

中国专利 :CN119988115A ,2025-05-13

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