一种高电压仿真测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220657483.9

申请日：

2012-12-03

公开(公告)号：

CN202948086U

公开(公告)日：

2013-05-22

发明(设计)人：

吴勇

申请人：

申请人地址：

510730 广东省广州市保税区保盈南路19号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

广州市红荔专利代理有限公司 44214

代理人：

李彦孚;吴伟文

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-05-22	授权	授权
2022-11-11	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20121203 授权公告日:20130522 终止日期:20211203

共 50 条

[1]

一种高电压穿越测试装置 [P].

王忠利 ;

琚爱云 ;

左明鑫 ;

陈慧丽 ;

李冰 .

中国专利 :CN205958659U ,2017-02-15

[2]

高电压穿越测试装置 [P].

杨兴 .

中国专利 :CN203930010U ,2014-11-05

[3]

高隔离电压测试装置 [P].

何才刚 ;

吴佳 ;

江琦 ;

张爱学 .

中国专利 :CN203595741U ,2014-05-14

[4]

高电压测试装置 [P].

大岩和之 ;

八木大亮 .

中国专利 :CN103201643A ,2013-07-10

[5]

高电压测试装置 [P].

邱钰莲 ;

吕俊昌 ;

林宜政 ;

于浩 ;

夏中卫 .

中国专利 :CN202693777U ,2013-01-23

[6]

一种高电压介质损耗测试装置 [P].

陈慧湘 ;

梁全晶 .

中国专利 :CN207232264U ,2018-04-13

[7]

一种新型的高电压测试装置 [P].

邹康 .

中国专利 :CN210347806U ,2020-04-17

[8]

高电压介损测试装置 [P].

蔡国清 ;

黄雄涛 ;

陈世光 .

中国专利 :CN202794342U ,2013-03-13

[9]

高电压介质损耗测试装置 [P].

刘晓辉 ;

李炯 .

中国专利 :CN201237620Y ,2009-05-13

[10]

一种IC卡仿真测试装置 [P].

汪国海 .

中国专利 :CN205120874U ,2016-03-30

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