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一种涂层测厚仪
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201521086871.6
申请日
:
2015-12-22
公开(公告)号
:
CN205426059U
公开(公告)日
:
2016-08-03
发明(设计)人
:
唐建康
宋慧奇
杭小刚
唐佳
岳泽宇
申请人
:
申请人地址
:
214200 江苏省无锡市宜兴市万石镇工业园内
IPC主分类号
:
G01B706
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2016-08-03
授权
授权
2019-12-06
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 7/06 申请日:20151222 授权公告日:20160803 终止日期:20181222
共 50 条
[1]
一种涂层测厚仪
[P].
饶喜平
论文数:
0
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0
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0
饶喜平
;
谢洁填
论文数:
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谢洁填
.
中国专利
:CN207050693U
,2018-02-27
[2]
一种涂层测厚仪
[P].
董哲
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董哲
;
尹建华
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尹建华
.
中国专利
:CN215572679U
,2022-01-18
[3]
一种涂层测厚仪
[P].
欧阳海军
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0
欧阳海军
.
中国专利
:CN209013918U
,2019-06-21
[4]
一种多用涂层测厚仪
[P].
张健
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张健
;
杜新安
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杜新安
;
申韶华
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申韶华
;
王郁芬
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王郁芬
.
中国专利
:CN206656687U
,2017-11-21
[5]
一种多用涂层测厚仪
[P].
侯登科
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0
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机构:
广东惠浦新材料科技有限公司
广东惠浦新材料科技有限公司
侯登科
.
中国专利
:CN221302280U
,2024-07-09
[6]
一种涂层测厚仪探头
[P].
苏亚东
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苏亚东
.
中国专利
:CN205079731U
,2016-03-09
[7]
一种涂层测厚仪
[P].
周裕昆
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周裕昆
.
中国专利
:CN211954085U
,2020-11-17
[8]
一种涂层测厚仪
[P].
吴发展
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吴发展
;
金明建
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金明建
;
耿红喜
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耿红喜
.
中国专利
:CN216049758U
,2022-03-15
[9]
一种涂层测厚仪
[P].
孟凡超
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孟凡超
.
中国专利
:CN212843490U
,2021-03-30
[10]
一种涂层测厚仪
[P].
罗蕴渊
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罗蕴渊
.
中国专利
:CN207894395U
,2018-09-21
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