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检测和校正破坏性读取的非易失性存储器中的错误的方法和设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201680066019.3
申请日
:
2016-11-21
公开(公告)号
:
CN108292520B
公开(公告)日
:
2018-07-17
发明(设计)人
:
朱玉明
马尼什·戈埃尔
张赛
申请人
:
申请人地址
:
美国德克萨斯州
IPC主分类号
:
G11C2942
IPC分类号
:
代理机构
:
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287
代理人
:
林斯凯
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-12-14
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/42 申请日:20161121
2022-05-10
授权
授权
2018-07-17
公开
公开
共 50 条
[1]
非易失性存储器中的错误校正
[P].
Z·S·关
论文数:
0
引用数:
0
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0
Z·S·关
;
R·H·莫特瓦尼
论文数:
0
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0
R·H·莫特瓦尼
;
K·潘加尔
论文数:
0
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0
K·潘加尔
;
P·S·丹勒
论文数:
0
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0
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0
P·S·丹勒
.
中国专利
:CN105706059B
,2016-06-22
[2]
读取非易失性存储器的方法和存储设备
[P].
金广勋
论文数:
0
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0
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0
金广勋
;
孔骏镇
论文数:
0
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0
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0
孔骏镇
;
薛昶圭
论文数:
0
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0
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0
薛昶圭
;
孙弘乐
论文数:
0
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0
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孙弘乐
.
中国专利
:CN110085275A
,2019-08-02
[3]
用于存储器中的错误检测和校正的方法和设备
[P].
J·M·麦克拉特
论文数:
0
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0
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0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
J·M·麦克拉特
;
R·J·格莱克斯纳
论文数:
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0
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0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
R·J·格莱克斯纳
.
美国专利
:CN115249505B
,2025-11-18
[4]
用于非易失性存储器单元的分组和错误校正
[P].
H·V·特兰
论文数:
0
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0
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0
机构:
硅存储技术股份有限公司
硅存储技术股份有限公司
H·V·特兰
.
美国专利
:CN119895402A
,2025-04-25
[5]
非易失性存储器阵列中检测读取失败的方法和存储器系统
[P].
理查德·K·埃吉基
论文数:
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0
理查德·K·埃吉基
;
何晨
论文数:
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0
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0
何晨
.
中国专利
:CN103456367A
,2013-12-18
[6]
非易失性存储器装置和非易失性存储器装置的读取方法
[P].
方真培
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0
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0
方真培
;
金斗铉
论文数:
0
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0
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0
金斗铉
;
金珉奭
论文数:
0
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0
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0
金珉奭
;
金志秀
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0
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0
h-index:
0
金志秀
.
中国专利
:CN114078536A
,2022-02-22
[7]
存储器系统中的破坏性读取的管理
[P].
谢廷俊
论文数:
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0
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0
谢廷俊
;
陈振刚
论文数:
0
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0
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0
陈振刚
.
中国专利
:CN113272904A
,2021-08-17
[8]
存储器系统中的破坏性读取的管理
[P].
谢廷俊
论文数:
0
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0
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0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
谢廷俊
;
陈振刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
陈振刚
.
美国专利
:CN113272904B
,2024-05-31
[9]
检查非易失性存储器装置的错误的设备和方法
[P].
金正爱
论文数:
0
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0
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0
金正爱
;
金志烈
论文数:
0
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0
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0
金志烈
.
中国专利
:CN114360620A
,2022-04-15
[10]
检查非易失性存储器装置的错误的设备和方法
[P].
金正爱
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
爱思开海力士有限公司
爱思开海力士有限公司
金正爱
;
金志烈
论文数:
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0
机构:
爱思开海力士有限公司
爱思开海力士有限公司
金志烈
.
韩国专利
:CN114360620B
,2025-11-21
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