一种基于光频梳的高分辨率光谱测量系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710362798.8
申请日
2017-05-22
公开(公告)号
CN107328474A
公开(公告)日
2017-11-07
发明(设计)人
朱晓琪 陈章渊 陈景标 陈菲雅 彭焕发 徐永驰
申请人
申请人地址
100871 北京市海淀区颐和园路5号北京大学
IPC主分类号
G01J328
IPC分类号
G01J304
代理机构
北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200
代理人
司立彬
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
高分辨率光谱测量装置 [P]. 
蔡小舒 .
中国专利 :CN201145614Y ,2008-11-05
[2]
高分辨率光谱测量装置 [P]. 
蔡小舒 .
中国专利 :CN101281061A ,2008-10-08
[3]
一种极高分辨率光谱测量装置及方法 [P]. 
柯昌剑 ;
谭芷莹 ;
罗志祥 ;
刘德明 .
中国专利 :CN104697634A ,2015-06-10
[4]
基于量子技术的高分辨率动态光谱测量系统及其测量方法 [P]. 
董瑞芳 ;
项晓 ;
刘涛 ;
张首刚 .
中国专利 :CN110987185A ,2020-04-10
[5]
一种超高分辨率光谱测量方法及系统 [P]. 
张驰 ;
张新亮 ;
段玉华 ;
陈燎 ;
周海东 ;
周希 .
中国专利 :CN107219002A ,2017-09-29
[6]
一种宽带高分辨率光谱响应测量方法 [P]. 
王大勇 ;
杨锋 ;
王云新 ;
侯雪缘 ;
戎路 ;
赵洁 .
中国专利 :CN110926511B ,2020-03-27
[7]
高分辨率光谱共焦测量装置 [P]. 
刘柱 ;
王修璞 ;
朱登宝 ;
朱莎 .
中国专利 :CN222733538U ,2025-04-08
[8]
一种高集成超高分辨率中红外双光梳光谱测量装置与方法 [P]. 
王擂然 ;
孙启兵 ;
石磊 ;
张文富 .
中国专利 :CN112485222A ,2021-03-12
[9]
一种高分辨率大测量范围的光延迟测量系统及方法 [P]. 
杨登才 ;
冯凌阁 ;
杨锋 ;
王云新 ;
王智勇 ;
王卓 .
中国专利 :CN115225147B ,2024-02-06
[10]
一种基于重频差锁定的高重频双光纤光梳光谱测量系统 [P]. 
韦小明 ;
梁兆恒 ;
杨中民 .
中国专利 :CN118565624B ,2025-11-28