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一种透明板材点状缺陷检测系统及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110706074.7
申请日
:
2021-06-24
公开(公告)号
:
CN113310993A
公开(公告)日
:
2021-08-27
发明(设计)人
:
宗子盛
宗子凯
申请人
:
申请人地址
:
255035 山东省淄博市张店区金晶大道265号颐和花园4号楼4单元501号
IPC主分类号
:
G01N2188
IPC分类号
:
G01N21958
代理机构
:
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
:
王云晓
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-08-27
公开
公开
共 50 条
[1]
一种透明板材点状缺陷检测系统及方法
[P].
宗子盛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宗子凯
宗子凯
宗子盛
;
宗子凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宗子凯
宗子凯
宗子凯
.
中国专利
:CN113310993B
,2024-10-22
[2]
一种基于机器视觉的透明板材缺陷检测装置及其检测方法
[P].
薛彬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
薛彬
;
李亚杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李亚杰
;
吴志生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴志生
;
孟庆森
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孟庆森
;
刘栋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘栋
;
茌文清
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
茌文清
.
中国专利
:CN110487821A
,2019-11-22
[3]
透明板材通孔视觉检测系统及方法
[P].
刘应龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘应龙
;
刘明玉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘明玉
;
尹嘉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
尹嘉
;
张远明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张远明
;
吴旭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴旭
;
喻海清
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
喻海清
;
王涵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王涵
.
中国专利
:CN111006608B
,2020-04-14
[4]
一种基于机器视觉的透明板材缺陷检测装置
[P].
薛彬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
薛彬
;
李亚杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李亚杰
;
吴志生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴志生
;
孟庆森
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孟庆森
;
刘栋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘栋
;
茌文清
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
茌文清
.
中国专利
:CN211122594U
,2020-07-28
[5]
一种缺陷检测方法及缺陷检测系统
[P].
茹泽伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
茹泽伟
;
刁梁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刁梁
;
付磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
付磊
.
中国专利
:CN113405994A
,2021-09-17
[6]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
黄有为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
朱燕明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
朱燕明
;
王建龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
王建龙
.
中国专利
:CN120847114A
,2025-10-28
[7]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
曹阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
曹阳
;
谢佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
谢佳
;
翟攀攀
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
翟攀攀
;
严兵华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
严兵华
;
施明志
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
施明志
;
郭育诚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
郭育诚
.
中国专利
:CN120213930A
,2025-06-27
[8]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
黄有为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
赵康俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
赵康俊
;
刘英见
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
刘英见
.
中国专利
:CN120801333A
,2025-10-17
[9]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
黄有为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
赵康俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
赵康俊
;
刘英见
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
刘英见
.
中国专利
:CN120801333B
,2025-12-09
[10]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
田依杉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
田依杉
;
兰艳平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
兰艳平
.
中国专利
:CN115508364B
,2025-04-25
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