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老化测试设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202020226133.1
申请日
:
2020-02-27
公开(公告)号
:
CN211826301U
公开(公告)日
:
2020-10-30
发明(设计)人
:
于洪懿
范振东
赵佳明
王星
申请人
:
申请人地址
:
266104 山东省青岛市崂山区北宅街道投资服务中心308室
IPC主分类号
:
G01R3100
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人
:
胡海国
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-10-30
授权
授权
共 50 条
[1]
老化测试设备
[P].
李小丹
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市永诚创科技有限公司
深圳市永诚创科技有限公司
李小丹
.
中国专利
:CN221610243U
,2024-08-27
[2]
老化测试设备
[P].
黄麦多
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黄麦多
;
邹坤
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邹坤
.
中国专利
:CN202854256U
,2013-04-03
[3]
老化测试设备
[P].
姚金广
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0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
姚金广
.
中国专利
:CN223597828U
,2025-11-25
[4]
老化测试设备
[P].
高光辉
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机构:
长迈半导体(成都)有限公司
长迈半导体(成都)有限公司
高光辉
;
姚金广
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机构:
长迈半导体(成都)有限公司
长迈半导体(成都)有限公司
姚金广
;
李康海
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机构:
长迈半导体(成都)有限公司
长迈半导体(成都)有限公司
李康海
.
中国专利
:CN223123176U
,2025-07-18
[5]
老化测试支撑板及老化测试设备
[P].
张鑫
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
张鑫
;
徐永刚
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
徐永刚
;
孙成思
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成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
孙成思
;
何瀚
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成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
何瀚
;
王灿
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
王灿
.
中国专利
:CN220543062U
,2024-02-27
[6]
灯具老化测试设备
[P].
张玉飞
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张玉飞
;
任中杰
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任中杰
.
中国专利
:CN215219104U
,2021-12-17
[7]
芯片老化测试设备
[P].
李康海
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杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
李康海
;
陈庆辉
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杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
陈庆辉
;
黄炜胜
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杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
黄炜胜
;
柴鹏辉
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杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
柴鹏辉
;
范王蒙
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
范王蒙
.
中国专利
:CN223426805U
,2025-10-10
[8]
产品老化测试设备
[P].
王启辉
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王启辉
.
中国专利
:CN215986312U
,2022-03-08
[9]
功率器件量产老化测试用老化测试设备
[P].
孙浩强
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孙浩强
;
孙元鹏
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孙元鹏
;
吕岩
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吕岩
;
张文亮
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张文亮
;
佘超群
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佘超群
.
中国专利
:CN218122160U
,2022-12-23
[10]
手柄摇杆老化测试设备
[P].
李会东
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李会东
.
中国专利
:CN209131945U
,2019-07-19
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