基于卷积自编码器图像扩增的热成像缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110168833.9

申请日：

2021-02-07

公开(公告)号：

CN112837294A

公开(公告)日：

2021-05-25

发明(设计)人：

刘毅刘凯新娄维尧杨建国

申请人：

申请人地址：

310014 浙江省杭州市下城区朝晖六区

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T500 G06N304 G06N308

代理机构：

杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213

代理人：

周红芳;朱盈盈

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210207
2021-05-25	公开	公开

共 50 条

[1]

基于卷积自编码器图像扩增的热成像缺陷检测方法 [P].

刘毅 ;

刘凯新 ;

娄维尧 ;

杨建国 .

中国专利 :CN112837294B ,2024-02-27

[2]

基于多层自编码器的红外热成像缺陷检测图像处理方法 [P].

刘毅 ;

郑明凯 ;

刘凯新 .

中国专利 :CN113552172B ,2024-09-06

[3]

基于多层自编码器的红外热成像缺陷检测图像处理方法 [P].

刘毅 ;

郑明凯 ;

刘凯新 .

中国专利 :CN113552172A ,2021-10-26

[4]

一种基于深度卷积自编码器的纹理图像表面缺陷检测方法 [P].

伊国栋 ;

王吉春 ;

张树有 .

中国专利 :CN111815601A ,2020-10-23

[5]

基于自编码器网络的印刷缺陷检测方法 [P].

彭成斌 ;

李文茜 ;

刘晓坤 .

中国专利 :CN112070712B ,2024-05-03

[6]

基于自编码器网络的印刷缺陷检测方法 [P].

彭成斌 ;

李文茜 ;

刘晓坤 .

中国专利 :CN112070712A ,2020-12-11

[7]

一种基于深度卷积自编码器的艺术品缺陷检测方法 [P].

李晟 ;

程陶 ;

辛春阳 ;

樊亚东 .

中国专利 :CN118781076A ,2024-10-15

[8]

一种基于去噪卷积自编码器的缺陷检测方法及装置 [P].

胡战虎 ;

黄天仑 ;

陈再励 ;

李新旺 ;

吴亮生 ;

卢杏坚 ;

何峰 .

中国专利 :CN113129272A ,2021-07-16

[9]

基于时间卷积自编码器的工业过程故障检测方法及装置 [P].

熊伟丽 ;

曾峰荣 ;

孙焕琪 .

中国专利 :CN119596910A ,2025-03-11

[10]

基于变分自编码器的图像异常检测方法 [P].

周宇 ;

梁晓敏 ;

张维 .

中国专利 :CN111598881B ,2020-08-28

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