法律状态
| 1988-02-17 |
公开
| 公开 |
| 1988-08-09 |
审定
| 审定 |
| 1987-01-28 |
实质审查请求
| 实质审查请求 |
| 1989-07-04 |
授权
| 授权 |
共 50 条
[2]
一种高压条件下的光谱测量装置
[P].
李凡
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
金华职业技术大学
金华职业技术大学
李凡
;
张向平
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机构:
金华职业技术大学
金华职业技术大学
张向平
;
方晓华
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
金华职业技术大学
金华职业技术大学
方晓华
;
赵永建
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
金华职业技术大学
金华职业技术大学
赵永建
.
中国专利 :CN109342334B ,2025-04-18 [8]
一种高压条件下的光谱测量方法
[P].
方英姿
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
金华职业技术大学
金华职业技术大学
方英姿
;
张向平
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
金华职业技术大学
金华职业技术大学
张向平
;
方晓华
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
金华职业技术大学
金华职业技术大学
方晓华
;
赵永建
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
金华职业技术大学
金华职业技术大学
赵永建
.
中国专利 :CN109374528B ,2024-12-03