延迟电路以及测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200480037677.7

申请日：

2004-12-17

公开(公告)号：

CN1894852A

公开(公告)日：

2007-01-10

发明(设计)人：

须田昌克寒竹秀介

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

H03K513

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

北京中原华和知识产权代理有限责任公司

代理人：

寿宁

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-01-10	公开	公开
2009-11-25	授权	授权
2015-02-04	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101597013409 IPC(主分类):H03K 5/13 专利号:ZL2004800376777 申请日:20041217 授权公告日:20091125 终止日期:20131217
2007-03-07	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

延迟电路测试方法以及测试电路 [P].

纪国伟 ;

余俊锜 ;

张志伟 .

中国专利 :CN115598492A ,2023-01-13

[2]

延迟电路和使用其的定时发生器以及测试装置 [P].

佐藤直树 .

中国专利 :CN102165692A ,2011-08-24

[3]

测试装置以及测试电路卡 [P].

松本直木 ;

关野隆 .

中国专利 :CN101331404A ,2008-12-24

[4]

测试装置以及电源电路 [P].

小寺悟司 .

中国专利 :CN100559320C ,2007-10-17

[5]

测试装置、电路装置以及程序 [P].

小塚纪义 .

中国专利 :CN101755220A ,2010-06-23

[6]

延迟电路、驱动装置、半导体装置以及延迟方法 [P].

浅野大造 .

日本专利 :CN118554931A ,2024-08-27

[7]

引脚驱动电路以及测试装置 [P].

魏洪学 ;

王寅 ;

晁准星 ;

胡锦浩 .

中国专利 :CN120507632A ,2025-08-19

[8]

传感电路以及测试装置 [P].

李健发 ;

林逸峻 .

中国专利 :CN115376595A ,2022-11-22

[9]

修正电路以及测试装置 [P].

桑名勇治 ;

松本直木 .

中国专利 :CN101689886B ,2010-03-31

[10]

延迟电路以及延迟方法 [P].

马昌博 ;

刘元卿 .

中国专利 :CN101325410A ,2008-12-17

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