射频测试系统及其射频测试电路

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专利类型
实用新型
申请号
CN200820300315.8
申请日
2008-03-07
公开(公告)号
CN201207715Y
公开(公告)日
2009-03-11
发明(设计)人
吴正宇 颜涛
申请人
申请人地址
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号
IPC主分类号
H04Q734
IPC分类号
H04B1700
代理机构
代理人
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
射频测试电路、射频测试系统及射频测试方法 [P]. 
阳东 ;
黄渊球 ;
莫阳和 .
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[2]
射频测试装置、射频测试设备和射频测试系统 [P]. 
林楷辉 ;
方坤 ;
倪建兴 .
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[3]
射频测试系统及射频测试方法 [P]. 
何文卿 .
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[4]
射频测试机构及射频测试系统 [P]. 
连永昌 ;
白剑 ;
周雨 .
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[5]
一种射频电路、射频测试接口装置和射频测试系统 [P]. 
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[6]
射频测试系统 [P]. 
张刚 .
中国专利 :CN213403032U ,2021-06-08
[7]
射频测试系统 [P]. 
李永召 .
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[8]
射频测试系统 [P]. 
王远 ;
吴昊 ;
曹进 ;
陈国华 ;
王继中 ;
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射频测试装置和射频测试系统 [P]. 
朱青云 ;
林国序 .
中国专利 :CN223231188U ,2025-08-15
[10]
射频测试设备固定装置及射频测试系统 [P]. 
纪永波 .
中国专利 :CN108132367B ,2018-06-08