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一种改进的芯片测试夹具
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201620202225.X
申请日：
2016-03-16
公开(公告)号：
CN205388612U
公开(公告)日：
2016-07-20
发明(设计)人：
刘伟
金兰
阚紫为
申请人：
申请人地址：
100094 北京市海淀区永丰基地丰贤中路7号孵化楼A楼2层
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2016-07-20 | 授权 | 授权 |