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一种芯片测试用试验台
被引：0
申请号：
CN202123039673.2
申请日：
2021-12-01
公开(公告)号：
CN216434290U
公开(公告)日：
2022-05-03
发明(设计)人：
林高云
申请人：
申请人地址：
518100 广东省深圳市龙岗区龙岗街道龙西社区楼吓牌坊南面工业园厂房6栋1层
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
广东奥益专利代理事务所(普通合伙) 44842
代理人：
田树杰
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-05-03 | 授权 | 授权 |