一种芯片测试装置、测试系统及测试方法

被引：0

申请号：

CN202210974524.5

申请日：

2022-08-15

公开(公告)号：

CN115436778A

公开(公告)日：

2022-12-06

发明(设计)人：

刘明胡忠强关蒙萌黄豪潘伟

申请人：

申请人地址：

519000 广东省珠海市高新区唐家湾镇科技七路1号4栋5-B单元

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R3302

代理机构：

广东朗乾律师事务所 44291

代理人：

杨焕军

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-06	公开	公开
2022-12-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20220815

共 50 条

[1]

芯片测试装置、测试系统及芯片测试方法 [P].

林扬书 ;

林楷辉 ;

方坤 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN117761520A ,2024-03-26

[2]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

谢媛媛 ;

张智 ;

沈忠丽 .

中国专利 :CN120559431A ,2025-08-29

[3]

芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

中国专利 :CN112802536A ,2021-05-14

[4]

芯片测试系统及芯片测试装置 [P].

焦继业 ;

刘俊波 ;

李辉 ;

王暾烜 .

中国专利 :CN217766725U ,2022-11-08

[5]

芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

美国专利 :CN112802536B ,2024-09-13

[6]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试装置的制备方法 [P].

李磊 ;

陶军磊 ;

武绍军 ;

赵南 ;

蒋尚轩 .

中国专利 :CN120142892A ,2025-06-13

[7]

一种芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

赵山 ;

黄建军 ;

吴永红 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222353963U ,2025-01-14

[8]

一种芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

黄永 .

中国专利 :CN117415036A ,2024-01-19

[9]

芯片测试装置、芯片测试系统及收发机测试系统 [P].

历德义 ;

邱禹 ;

孔祥盾 .

中国专利 :CN223229700U ,2025-08-15

[10]

芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117517732A ,2024-02-06

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