重新配置集成电路芯片的器件引脚的测试模式控制电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN03824554.X

申请日：

2003-09-23

公开(公告)号：

CN100353364C

公开(公告)日：

2005-11-02

发明(设计)人：

科林·S·麦金托什科林·普赖斯

申请人：

申请人地址：

美国马萨诸塞州

IPC主分类号：

G06F1900

IPC分类号：

G01R2728

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：

康建忠

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-12-05	授权	授权
2005-11-02	公开	公开
2005-12-28	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

测试控制电路和集成电路芯片测试电路 [P].

黄泽群 .

中国专利 :CN209086390U ,2019-07-09

[2]

测试控制电路及方法、集成电路芯片测试电路 [P].

黄泽群 .

中国专利 :CN111103523A ,2020-05-05

[3]

单芯片集成电路的控制电路 [P].

廖俊尧 .

中国专利 :CN101685296B ,2010-03-31

[4]

控制电路及其控制方法、集成电路芯片 [P].

黄宇 ;

张威威 .

中国专利 :CN116157694B ,2025-09-12

[5]

一种用于集成电路芯片测试分选的控制电路 [P].

林少松 ;

林康生 ;

陈仕铭 .

中国专利 :CN221305767U ,2024-07-09

[6]

集成电路中的动态扫描链重新配置 [P].

P·T·肖杜里 .

中国专利 :CN110622016A ,2019-12-27

[7]

集成电路的测试 [P].

L·M·A·范德洛特 ;

T·F·瓦耶斯 ;

F·范德海登 .

中国专利 :CN1748154A ,2006-03-15

[8]

集成电路芯片内电容器的放电控制电路 [P].

庄宇 ;

罗鹏 .

中国专利 :CN101211907B ,2008-07-02

[9]

开关器件的控制电路、系统及集成电路 [P].

闫军政 ;

吴维刚 ;

李建华 .

中国专利 :CN108599124B ,2018-09-28

[10]

高电压控制电路与用于其中的集成电路芯片 [P].

林梓诚 .

中国专利 :CN202352351U ,2012-07-25

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